[发明专利]非均匀颗粒离散单元快速线性接触检测方法

权利要求书

1.一种非均匀颗粒离散单元快速线性接触检测方法，其特征在于：所述方法步骤如下：

步骤1，根据颗粒的粒径将所有颗粒从大到小排序并分成n组，具体步骤如下：

步骤A、设第1组中的颗粒的粒径为d₁，则d₁的范围为D≤d₁<D/α；

步骤B、设第2组中的颗粒的粒径为d₂，则d₂的范围为D/α≤d₂<D/α²；

步骤C、设第3组中的颗粒的粒径为d₃，则d₃的范围为D/α²≤d₃<D/α³；

步骤D、依此类推，设第n组中的颗粒的粒径为d_n，则d_n的范围为D/α^(n-1)≤d_n；

其中D为所有颗粒粒径的最大值，d为所有颗粒粒径的最小值；α＝2；n为总的组数，n＝int[log(D/d)/logα+0.416]+1，如果n>20，取n＝20，所述颗粒具体为岩土；

步骤2，将第1组中的颗粒与第1到第n组中的颗粒进行接触检测；

步骤3，将第1组颗粒从总体中去除，将第2组中的颗粒与第2到第n组中的颗粒进行接触检测；

步骤4，将第1组和第2组颗粒从总体中去除，将第3组中的颗粒与第3到第n组中的颗粒进行接触检测；

步骤5，依照步骤4类推，将已经进行过检测的颗粒组从总体中去除，进行下一组颗粒与剩余颗粒的检测，直至第n组颗粒与第n组中所有颗粒进行接触检测。

2.根据权利要求1所述的非均匀颗粒离散单元快速线性接触检测方法，其特征在于：以第i组颗粒与第i到第n组颗粒进行接触检测为例，说明其步骤如下：

步骤a、以第i组中颗粒粒径的最大值D/α^(i-1)为边长划分网格，并将颗粒映射到所在网格上；

步骤b、遍历所有颗粒，若某颗粒属于第i组，则进入步骤c，否则遍历下一个颗粒；

步骤c、遍历该颗粒的周边网格中的颗粒，若周边网格中某颗粒所属分组大于等于i，则将该颗粒加入到中心颗粒的接触颗粒数组中，否则遍历周边网格中下一个颗粒，直至遍历结束；

步骤d、重复步骤b和步骤c，直至第i组中所有的颗粒都与其周边网格中的颗粒进行了接触检测。

3.根据权利要求1所述的非均匀颗粒离散单元快速线性接触检测方法，其特征在于：所述接触检测方法采用NBS接触检测方法。