[发明专利]一种带有检测孔的MEMS微梁应力梯度的测试结构和测量方法有效
申请号: | 201610027409.1 | 申请日: | 2016-01-15 |
公开(公告)号: | CN105547542B | 公开(公告)日: | 2018-02-13 |
发明(设计)人: | 唐洁影;王磊;蒋明霞 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G01L1/24 | 分类号: | G01L1/24 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙)32249 | 代理人: | 徐激波 |
地址: | 211189 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 带有 检测 mems 应力 梯度 测试 结构 测量方法 | ||
1.一种带有检测孔的MEMS微悬臂梁应力梯度的测试结构,其特征在于:包括衬底、两个长锚区和六根被测悬臂梁;
所述两个长锚区为左侧长锚区和右侧长锚区,分别固定在衬底的上表面上;
所述六根被测悬臂梁每三根一组,分为两组,每组中的被测悬臂梁平行等距设置,两组被测悬臂梁分别通过各自的锚区平行并悬置在衬底的上方;
第一组被测悬臂梁的一端固定在左侧长锚区的右侧面,另一端刻蚀有检测孔;第二组被测悬臂梁的一端固定在右侧长锚区的左侧面,另一端刻蚀有检测孔;所述检测孔为方形通孔,检测孔的前后左右四面侧壁均垂直于表面;
所述两组被测悬臂梁的悬置端相互对应,完全对称的相向放置。
2.根据权利要求1所述一种带有检测孔的MEMS微悬臂梁应力梯度的测试结构的测试方法,其特征在于:具体步骤如下:
1)将释放工序前后的测试结构分别置于光学显微镜下进行观察,放大倍数根据测试结构的尺寸而定,调节显微镜的焦距直至测试结构的图像清晰可见,分别记录测试结构释放工序前后的俯视图像;
2)对比释放工序前后的两张俯视图像,若释放后俯视图像中的检测孔在水平面上的投影图形无变化,表明被测悬臂梁不存在应力,否则有应力存在;
3)对于释放后检测孔在水平面上的投影图形发生变化的情况,仔细观察检测孔的投影图形;若检测孔的前壁在水平面上的投影为一条直线,而后壁在水平面上的投影为矩形,表明被测悬臂梁因存在应力梯度而产生向上弯曲的现象;反之,若检测孔的前壁在水平面上的投影矩形,而后壁在水平面上的投影为一条直线,那么被测悬臂梁因存在应力梯度而产生向下弯曲的现象;
4)测量检测孔前壁或后壁在水平面上的投影面积,通过投影面积的大小可获知检测孔的倾斜角度,进而推知被测悬臂梁的弯曲程度,获知应力梯度带来的影响;
5)观测释放前后被测悬臂梁两末端边缘之间的距离变化,通过测量距离变化量推知两被测悬臂梁的弯曲程度;
6)综合4)和5)的测试结果,相互印证,合理调节,给出更加可靠的测试结果。
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