[发明专利]一种基于横卧T形梁的MEMS微梁应力梯度的各向异性测试结构和测量方法有效
申请号: | 201610028123.5 | 申请日: | 2016-01-15 |
公开(公告)号: | CN105547558B | 公开(公告)日: | 2018-04-24 |
发明(设计)人: | 唐洁影;王磊 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G01L5/00 | 分类号: | G01L5/00 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙)32249 | 代理人: | 徐激波 |
地址: | 211189 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 mems 应力 梯度 各向异性 测试 结构 测量方法 | ||
1.一种基于横卧T形梁的MEMS微梁应力梯度的各向异性测试结构,其特征在于:包括衬底、正方柱、四个锚区以及四根被测横卧T形梁;
所述正方柱固定于衬底上表面的中央位置;
所述四根被测横卧T形梁的材料和尺寸完全相同,对称分布于正方柱的四周,并悬置在衬底的上方;被测横卧T形梁的一端分别固定在各自锚区的侧面,另一端在接近末端边缘的一小截处的宽度宽于其它地方形成横卧T形梁的翼缘;
所述四根被测横卧T形梁的上表面与正方柱的顶面处于同一平面,且横卧T形梁的翼缘边分别靠近并平行正方柱顶面的四条边,在正方柱外围围成一不完全封闭的正方图形。
2.根据权利要求1所述的一种基于横卧T形梁的MEMS微梁应力梯度的各向异性测试结构的测试方法,其特征在于:具体步骤如下:
1)将释放工序前后的测试结构分别置于光学显微镜下观察,放大倍数根据测试结构的尺寸而定,调节显微镜的焦距直至测试结构的图像清晰可见,分别记录测试结构释放工序前后的俯视图像;
2)对比释放工序前后的两张图像,分析结构释放后,正方柱外围围成的不完全封闭的正方图形是否发生变化;无变化表明被测横卧T形梁不存在应力,否则有应力梯度的存在;
如果被测横卧T形梁不存在应力梯度,那么横卧T形梁结构释放后,横卧T形梁在水平面上的投影长度不变;那么,由四根横卧T形梁围成的正方图形也保持不变;
如果被测横卧T形梁存在应力梯度,那么在横卧T形梁被释放悬空后,横卧T形梁会向上翘起或向下弯曲,导致在水平面上的投影长度明显缩短,因而由四根横卧T形梁的T形横边所围成的正方图形将扩大;
3)对于发生变化的正方图形,测量各T形横边与正方柱对应边的间距变化量,从而获知横卧T形梁弯曲程度,判断出结构层应力梯度的大小;
若变化后的图形仍为正方形,表明在同一水平面上相互垂直的两个方向上的横卧T形梁的弯曲情况相同,应力梯度与方向基本无关;
若变化后的图形变为长方形,表明在同一水平面上相互垂直的两个方向上的横卧T形梁弯曲情况有差异,应力梯度与方向有关,可分别测量和获取相互垂直的两个方向的应力梯度。
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