[发明专利]全背型异质结太阳电池及其制备方法有效
申请号: | 201610028152.1 | 申请日: | 2016-01-16 |
公开(公告)号: | CN105514206B | 公开(公告)日: | 2018-02-02 |
发明(设计)人: | 包健;王栋良;舒欣;陈奕峰;杨阳;张学玲 | 申请(专利权)人: | 常州天合光能有限公司 |
主分类号: | H01L31/072 | 分类号: | H01L31/072;H01L31/0376;H01L31/0352;H01L31/0216;H01L31/20 |
代理公司: | 浙江永鼎律师事务所33233 | 代理人: | 郭小丽 |
地址: | 213031 江苏省常*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 接触 异质结 太阳电池 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种太阳电池及其制备方法,尤其涉及一种全背型异质结太阳电池及其制备方法,属于太阳电池生产技术领域。
背景技术
近年来,异质结电池的光电性能已经得到了很大的提高,转换效率也达到了24.7%。为进一步提升传统异质结电池效率,人们对异质结电池的结构进行了进一步的改进,出现了全背面电极结构的异质结电池,这样可以去除栅线对太阳光的遮挡,增加对入射光的吸收效率。目前,这种全背型异质结太阳电池最高效率已经达到了25.6%。但是,制备这种结构的太阳电池,需要对整个工艺过程进行严格的控制,电池背面的p-n结的p区和n区很容易导通,形成漏电流,导致开路电压和短路电流的降低,进而使得整体电池的转换效率降低。
发明内容
本发明针对现有技术中,全背型异质结太阳电池背面p-n结的p区和n区很容易导通,形成漏电流的技术问题,提供一种全背型异质结太阳电池,p区和n区有效隔离,防止漏电流的产生,提升太阳电池的开路电压;本发明的另一方面,还提供一种上述太阳电池的制备工艺。
为此,本发明采用如下技术方案:
一种全背型异质结太阳电池,包括硅基体层,其特征在于:在硅基体层(1)的前表面依次设置N型前表面场(2)和减反层(3),在硅基体层(1)的背表面设置本征非晶硅钝化层(4),在本征非晶硅钝化层(4)上间隔地设置有P型非晶硅层(5)和N型非晶硅层(6),P型非晶硅层(5)和N型非晶硅层(6)上分别设置有透明导电薄膜层(7),透明导电薄膜层(7)上设置有电极,所述P型非晶硅层(5)的厚度为5-20nm,宽度为100-1000μm,N型非晶硅层(6)的厚度为5-20nm,宽度为100-1000μm,相邻的P型非晶硅层(5)的中心点与N型非晶硅层(6)的中心点间隔150-3000μm,在所述P型非晶硅层(5)与N型非晶硅层(6)之间设置有绝缘隔离层(8),所述绝缘隔离层(8)的厚度为60-200nm,所述透明导电薄膜层(7)的厚度为60-200nm,宽度为100-1000μm。
进一步地,所述绝缘隔离层(8)采用二氧化硅、氮化硅、氧化铝的一种或多种的组合。
进一步地,所述本征非晶硅钝化层(4)的厚度为3-15nm。
进一步地,所述电极为银栅线(9),银栅线(9)的宽度40-100μm。
本发明的另一方面,提供种一种全背型异质结太阳电池的制备方法,包括如下步骤:
S1:提供一硅片作为硅基体层(1);
S2:对硅基体层(1)进行标准RCA清洗,之后采用HF处理,形成清洁表面,去离子水冲刷后吹干;
S3:将硅基体层(1)置入扩散炉中,在基体层的表面形成二氧化硅保护层;
S4:单面去除二氧化硅保护层,通过单面制绒工艺,在基体层的前表面形成金字塔结构,随后进行标准RCA清洗;
S5:通过扩散工艺在金字塔结构上形成N型前表面场(2);
S6:去除PSG,在前表面场上沉积氮化硅减反层(3),厚度约80nm;
S7:通过湿法工艺,去除基体层(1)背面的二氧化硅保护层,经过标准RCA清洗工艺及HF处理,形成清洁的背表面;
S8:通过CVD技术,在背表面沉积本征非晶硅钝化层(4),厚度为3-15nm;
S9:通过印刷工艺,涂布胶水,固化,形成所需的图形,沉积p型非晶硅层(5)和透明导电薄膜(TCO)层(7);溶剂除去固化后的胶水,通过印刷工艺,涂布胶水,固化,形成所需的图形,沉积n型非晶硅层(6)和透明导电薄膜(TCO)层(7);
S10:通过印刷工艺,涂布胶水,固化,形成所需的图形,在p型非晶硅层和n型非晶硅层和透明导电薄膜(TCO)层之间沉积绝缘隔离层(8);
S11:通过丝网印刷工艺,经低温烧结,形成银栅电极,完成本发明的全背型异质结太阳电池的制备。
所述P型非晶硅层(5)的厚度为5-20nm,宽度为100-1000μm,N型非晶硅层(6)的厚度为5-20nm,宽度为100-1000μm,P型非晶硅层(5)的中心点与N型非晶硅层(6)的中心点间隔150-3000μm,所述透明导电薄膜层(7)的厚度为60-200nm,宽度为100-1000μm。
进一步地,所述绝缘隔离层(8)采用二氧化硅、氮化硅、氧化铝的一种或多种的组合,绝缘隔离层(8)的厚度为60-200nm。
进一步地,所述银栅电极的银栅线(9)的宽度40-100μm。
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