[发明专利]一种智能TEDS传感器通用测试系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及传感器测试领域，特别是涉及一种智能TEDS传感器通用测试系统及方法。

背景技术

近年来，随着电子技术及其制造加工技术的发展，传感器产业适应技术潮流，进入了高速发展阶段，智能TEDS传感器应运而生。智能TEDS传感器包括电子传感器和TEDS(TransducerElectronicDataSheet，传感器电子数据表)，其中，TEDS数据包括传感器制造商信息、产品型号、产品编号、测量范围、出厂时的校正信息以及用户定义的信息、传感器的物理位置和灵敏度等相关信息。作为新一代电子传感器中的一种，智能TEDS传感器在消费电子、通信电子、医疗电子等领域凭借成本低廉、性能优异等特点而得到广泛应用。

而随着传感器技术的不断发展，对传感器测试系统也提出了更高要求。现有技术中的传感器测试系统，往往功能较为单一，针对不同的智能TEDS传感器，需要借助不同的仪器对测试系统进行重新组装，如利用不同的信号发生器和显示仪表等来帮助完成测试，整个测试系统中各个仪器间的连接较为复杂、繁琐，且配置时间长，测试效率较低。

因此，有必要对传感器测试系统进行进一步改进，以满足对新一代传感器的测试要求。

发明内容

本发明实施例中提供了一种智能TEDS传感器通用测试系统及方法，以解决现有技术中的传感器测试系统，针对不同的传感器需要利用不同的测试仪器进行重新组装，造成的测试系统配置时间长、测试效率低的问题。

为了解决上述技术问题，本发明实施例公开了如下技术方案：

本发明公开了一种智能TEDS传感器通用测试系统，包括上位机、存储器、信号发生器、信号调理电路和数据采集电路，其中，信号发生器和数据采集电路通过控制接口与上位机电连接；存储器设置在该上位机和数据采集电路之间，该存储器与数据采集电路电连接，且该存储器通过该控制接口与上位机电连接；数据采集电路与信号调理电路电连接，且信号发生器与待测智能TEDS传感器的信号输入端电连接，信号调理电路与待测智能TEDS传感器的信号输出端电连接。

优选的，数据采集电路包括依次电连接的A/D转换器、滤波器和放大器。

优选的，信号发生器可以根据用户需求，发送用户自定义的激励信号。

优选的，上位机使用LABVIEW软件编写图形化界面。

本发明公开了一种智能TEDS传感器通用测试方法，包括以下几个步骤：数据采集电路采集待测智能TEDS传感器的TEDS数据，并将该TEDS数据发送至存储器；该上位机读取该TEDS数据，并根据该TEDS数据发送控制命令至信号发生器，由该信号发生器生成并发送相应的激励信号至该待测智能TEDS传感器；该待测智能TEDS传感器接收该激励信号，生成并发送第一传感器信号至信号调理电路，由该信号调理电路对该第一传感器信号预处理，得到第二传感器信号；该数据采集电路采集并处理该第二传感器信号，生成第三传感器信号，并将该第三传感器信号发送至存储器；该上位机读取该第三传感器信号，并根据国标GB/T18459-2001，对该第三传感器信号进行分析并显示分析结果，完成对该待测智能TEDS传感器的测试。

由以上技术方案可见，本发明实施例提供的智能TEDS传感器通用测试系统及方法，包括上位机、存储器、信号发生器、信号调理电路和数据采集电路，与现有技术相比，通过利用上位机读取智能TEDS传感器的TEDS数据，针对不同的传感器类型，使信号发送器生成相应的激励信号，最终由上位机完成对该智能TEDS传感器的性能测试，可以实现利用一套测试系统完成对不同的智能TEDS传感器的性能测试，能够大大降低测试系统的配置时间和测试成本，并有效提高测试效率及用户体验。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种智能TEDS传感器通用测试系统的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种智能TEDS传感器通用测试系统的应用示意图；

图3为本发明实施例提供的一种智能TEDS传感器通用测试方法的流程示意图。

具体实施方式