[发明专利]一种高出光效率的深紫外发光二极管芯片及其制备方法在审
申请号: | 201610031553.2 | 申请日: | 2016-01-18 |
公开(公告)号: | CN105679910A | 公开(公告)日: | 2016-06-15 |
发明(设计)人: | 王帅;陈景文;何炬;戴江南;陈长清 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | H01L33/40 | 分类号: | H01L33/40;H01L33/20;H01L33/00 |
代理公司: | 江西省专利事务所 36100 | 代理人: | 胡里程 |
地址: | 430074 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高出光 效率 深紫 发光二极管 芯片 及其 制备 方法 | ||
1.一种高出光效率的倒装深紫外发光二极管芯片,其特征在于:该芯片结构 从下向上的顺序依次为厚度为0.3-0.5倍于芯片边长的c面蓝宝石衬底、低温 AlN成核层、PALEAlN缓冲层、高温AlN本征层、n型AlxGa1-xN层、 AlyGa1-yN/AlzGa1-zN多量子阱层、p型AluGa1-uN电子阻挡层、p型GaN层、 Ni/Al紫外光高反射率电极层,c面蓝宝石衬底背面设有Al薄膜。
2.如权利要求1所述的高出光效率倒装深紫外发光二极管芯片,其特征在于: 所述衬底背面的Al薄膜厚度为1-10纳米。
3.如权利要求1所述的高出光效率倒装深紫外发光二极管芯片,其特征在于: 所述Ni/Al电极材料,Ni材料厚度为1-5纳米,Al材料厚度为100-300纳米。
4.如权利要求1所述的高出光效率倒装深紫外发光二极管芯片,其特征在于: 所述p型GaN厚度为1-20纳米。
5.一种高出光效率的倒装深紫外发光二极管芯片的制备方法,其特征在于, 包括如下步骤:
(1)在c面蓝宝石衬底上,利用MOCVD工艺,将所述衬底温度降低为 600℃,生长低温AlN成核层;
(2)在所述低温AlN成核层上,将生长温度升高到1050℃,生长PALEAlN 缓冲层;
(3)在所述的PALEAlN缓冲层上,将生长温度升高到1300℃,生长高温 AlN本征层;
(4)在所述高温AlN本征层上,将生长温度保持在1150℃,生长n型 AlxGa1-xN层;
(5)在所述n型AlxGa1-xN层上,将生长温度保持在1150℃,生长 AlyGa1-yN/AlzGa1-zN多量子阱层;
(6)将生长温度保持在1150℃,在所述AlyGa1-yN/AlzGa1-zN多量子阱层上, 生长p型AluGa1-uN电子阻挡层;
(7)将生长温度保持在1050℃,在所述p型AluGa1-uN电子阻挡层上生 长p型GaN层,形成深紫外发光二极管外延片;
(8)在所述p型GaN层上光刻出p型电极的图形,然后利用电子束蒸发 设备在p型电极图形区沉积Ni/Al金属层,并快速退火形成紫外光高反射率p 型电极;
(9)在所述制作完成紫外光高反射率p型电极后的外延片上,利用 ICP/RIE设备刻蚀至n型AlxGa1-xN层,并在n型AlxGa1-xN层台面上光刻出n 型电极的图形;
(10)在所述刻有n型电极图形的外延片上沉积金属层,并在快速退火形 成n型电极;
(11)利用光刻胶保护p型和n型电极后,使用PECVD设备蒸镀SiO2钝化层;
(12)在所述完成蒸镀SiO2钝化层外延片上,把蓝宝石减薄到特定厚度、 划片,形成倒装深紫外发光二极管芯片;
(13)在所述倒装深紫外发光二极管芯片蓝宝石面,利用电子束蒸发设备 蒸镀Al薄膜,形成高出光效率的深紫外发光二极管。
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