[发明专利]一种多线光学扫描测距装置及其方法有效
申请号: | 201610032677.2 | 申请日: | 2016-01-19 |
公开(公告)号: | CN105549026B | 公开(公告)日: | 2018-03-30 |
发明(设计)人: | 王瑞;郑凯;李远 | 申请(专利权)人: | 北醒(北京)光子科技有限公司 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01S7/481 |
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地址: | 100084 北京市海淀区清华园*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学 扫描 测距 装置 及其 方法 | ||
1.一种光学扫描测距装置,其特征在于,所述光学扫描测距装置包括:光学扫描测距系统和反射系统;所述光学扫描测距系统包括光学扫描测距装置主体(4)和光学扫描测距装置旋转探头(5),所述反射系统包括上平面反射镜(1)和下平面反射镜(2),其中所述上平面反射镜(1)和下平面反射镜(2)具有夹角;所述反射系统设置于光学扫描测距系统的后方,机器人前进的方向为前方;所述上平面反射镜(1)和下平面反射镜(2)设置于机器人的内部后方的遮挡物位置;所述光学扫描测距装置旋转探头(5)包括光发射模块、光学透镜、光接收模块、信号处理模块;所述光学扫描测距装置主体(4)包括电机及滑环。
2.根据权利要求1所述的光学扫描测距装置,其特征在于,所述光学扫描测距装置主体(4)包括电机、无线供电装置及无线信号传输模块,不具有滑环。
3.根据权利要求1所述的光学扫描测距装置,其特征在于,所述上平面反射镜(1)和下平面反射镜(2)固定成90度夹角,上平面反射镜(1)与水平面成45度夹角。
4.根据权利要求1所述的光学扫描测距装置,其特征在于,所述光学扫描测距装置还包括控制平面反射镜转动的电机,所述电机控制上平面反射镜(1)转动,用于改变上平面反射镜(1)和水平面的夹角。
5.根据权利要求4所述的光学扫描测距装置,其特征在于,所述电机的数量为一个、两个或多于两个,所述电机控制上平面反射镜(1)单独转动、或者控制下平面反射镜(2)单独转动、或者控制上平面反射镜(1)和下平面反射镜(2)都转动。
6.根据权利要求1-5之一所述的光学扫描测距装置,其特征在于,反射镜为多组由上平面反射镜(1)和下平面反射镜(2)构成的反射镜组的组合,所述反射镜组的数量为两个或者多于两个,多个反射镜组之间以垂直于水平面方向为轴具有夹角,所述上平面反射镜(1)和下平面反射镜(2)之间具有夹角。
7.根据权利要求6所述的光学扫描测距装置,其特征在于,所述上平面反射镜(1)和下平面反射镜(2)为平面或者为曲面。
8.一种多线扫描测距的方法,其特征在于,光学扫描测距装置包括:光学扫描测距装置主体(4)、光学扫描测距装置旋转探头(5)、上平面反射镜(1)、下平面反射镜(2),所述上平面反射镜(1)和下平面反射镜(2)固定成90度夹角,上平面反射镜(1)与水平面成45度夹角;
多线扫描测距步骤为:
步骤一:光学扫描测距装置旋转探头发出光束,旋转到被测物体方向,光束直接照射到被测物体,经过被测物体的反射,反射光被接收模块接收,对被测物体第一次扫描测距;
步骤二:光学扫描测距装置旋转探头旋转到反射镜方向,光学扫描测距装置发出的光束,照射到下平面反射镜(2),经过反射,照射到上平面反射镜(1),光束水平射出,照射到被测物体;
步骤三:经过被测物体反射,反射光依次照射到上平面反射镜(1)和下平面反射镜(2),最后被光学扫描测距装置旋转探头中的光接收模块所接收,对扫描过的被测物体在另一水平面扫描,完成被测物体的第二次扫描测距;
步骤四:光学扫描测距装置旋转探头不断旋转,重复以上步骤。
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