[发明专利]一种用于纱线瑕疵检测的双光源检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及纱线质量的光电检测领域，特别是一种采用双光源方 式进行纱线瑕疵检测的检测方法。

背景技术

改革开放以来，我国的纺织行业发展迅速，整体规模和产值都有 了很大的提升，目前我国纺织工业产值已占世界的四分之一。在纺织 行业中，纱线瑕疵检测对于纺织品的生产质量有重大影响，目前自动 化检测纱线瑕疵在生产中起到越来越重要的作用。

目前，关于纱线瑕疵光电检测的技术方案很多。比如赵晓东等在 《电容式电子清纱系统的设计》中采用电容探头来检测纱线的粗细和 扁平瑕疵；贾孔昊等在《电子清纱系统的设计与开放》中采用COMS 传感器来检测纱线的粗细瑕疵；董晓亮等在《分布式纱线检测系统的 初步探究》中采用单光源，在透射和反射光电转换的基础再结合电容 来检测扁平瑕疵；唐述宏等在《光电技术在纱线疵点检测中的应用》 中采用光源照射纱线，再通过CCD来转换信号进行纱线疵点检测。 以上文献提出的技术方案虽然解决了纱线瑕疵问题，但是这些方案的 实现成本较高，电路系统相对复杂，并且采用电容检测纱线扁平瑕疵 容易受环境影响。

发明内容

为了克服现有技术方案实现成本较高、电路系统复杂、检测纱线 扁平瑕疵容易受环境影响等缺点，本发明提供一种成本较低、系统简 单、且能同时检测纱线粗细瑕疵和扁平瑕疵的双光源检测方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种用于纱线瑕疵检测的双光源检测方法，实现该检测方法的检 测系统包括第一光源检测单元和第二光源检测单元，第一光源和第二 光源的光线颜色不同，所述第一光源检测单元和第二光源检测单元的 检测光轴与待检测纱线的运动方向垂直，同时第一光源检测单元和第 二光源检测单元检测光轴正交；所述双光源检测方法包括如下步骤：

1).计算第一光源检测单元输出电压U_R和第二光源检测单元输 出电压U_G，所述第一光源检测单元输出电压U_R按照公式(1)计算，

U_R＝hE₀-Kd₁(1)

所述第二光源检测单元输出电压U_G按照公式(2)计算，

U_G＝hE₀-Kd₂(2)

其中，d₁，d₂分别为纱线水平方向和竖直方向的直径，E₀为无纱 线时光电转换电路吸收的光强总量，所述K＝λhE₀/y，所述λ为遮挡的 光强占被遮挡面积内光强总量比例系数，h为光电转换系数

检测纱线设定的标准直径为d₀，纱线检测中标准电压U0按照公 式(3)计算，

U₀＝hE₀-Kd₀(3)；

2).计算纱线水平方向直径变化电压输出量△U_R和纱线竖直方 向直径变化电压输出量△U_G，所述纱线水平方向直径变化输出量△U_R按照公式(4)计算，

ΔU_R＝U_R-U₀＝-K(d₁-d₀)＝-KΔd(4)

所述纱线竖直方向直径变化电压输出量△U_G按照公式(5)计算，

ΔU_G＝U_G-U₀＝-K(d₂-d₀)＝-KΔd(5)

3).通过ΔU_R和ΔU_G判断瑕疵类别。