[发明专利]一种脉冲波形测试电路有效
申请号: | 201610033983.8 | 申请日: | 2016-01-19 |
公开(公告)号: | CN105675984B | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 郑云龙;桑泽华;林敏;杨根庆;邹世昌 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | G01R23/16 | 分类号: | G01R23/16 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 脉冲 波形 测试 电路 | ||
1.一种脉冲波形测试电路,其特征在于,所述脉冲波形测试电路至少包括:
脉冲收集模块,用于收集单粒子轰击信息,产生单粒子瞬态脉冲;
脉冲宽度检测模块,与所述脉冲收集模块相连,用于检测所述单粒子瞬态脉冲在不同电压值时的脉冲宽度,并产生相应宽度的脉冲信号,其中,所述脉冲宽度检测模块包括多个不同阈值的缓冲器,通过各缓冲器分别检测所述单粒子瞬态脉冲在不同电压值时的脉冲宽度;
脉冲捕捉模块,与所述脉冲宽度检测模块相连,用于将不同电压值时检测到的脉冲宽度转化为数字信号;
脉冲波形还原模块,与所述脉冲捕捉模块相连,用于将不同电压值时的脉冲宽度进行整合以对所述单粒子瞬态脉冲的波形进行还原。
2.根据权利要求1所述的脉冲波形测试电路,其特征在于:所述脉冲收集模块为单个反相器。
3.根据权利要求1所述的脉冲波形测试电路,其特征在于:所述缓冲器包括串联的第一反相器和第二反相器,所述第一反相器的翻转电平为需要检测的脉冲宽度所处的电压值,所述第二反相器的翻转电平为电源电压的一半。
4.根据权利要求3所述的脉冲波形测试电路,其特征在于:所述第一反相器包括PMOS和NMOS,PMOS与NMOS的漏端相连作为输出端,PMOS和NMOS的栅端相连作为输入端,PMOS的源端连接电源电压,NMOS的源端接地;通过调节PMOS、NMOS的阈值以及宽长比来设定所述第一反相器的翻转电平。
5.根据权利要求1所述的脉冲波形测试电路,其特征在于:所述脉冲捕捉模块包括多个脉冲宽度转换器,分别与不同阈值的缓冲器连接,对不同电压值时的脉冲宽度进行捕捉;各脉冲宽度转换器包括触发控制单元、延时单元链路以及读出单元,当未接收到所述单粒子瞬态脉冲时,所述触发控制单元控制所述延时单元链路中的延时单元逐级反相传输,当接收到所述单粒子瞬态脉冲时,所述触发控制单元控制所述延时单元链路中的延时单元锁存并通过所述读出单元将各延时单元的存储状态输出。
6.根据权利要求5所述的脉冲波形测试电路,其特征在于:所述触发控制单元包括与或门、以及RS触发器;所述与或门的一端连接所述脉冲宽度检测模块的输出端、另一端连接一复位信号;所述RS触发器的置位端连接所述复位信号、复位端连接所述与或门的输出端,所述RS触发器的正相输出端通过第一输出级缓冲器输出第一控制信号,所述RS触发器的反相输出端通过第二输出级缓冲器输出第二控制信号。
7.根据权利要求5所述的脉冲波形测试电路,其特征在于:所述延时单元链路包括依次串联的多个延时单元,所述延时单元包括第一传输门、第二传输门、第一反相器以及第二反相器;所述第一传输门的一端连接所述脉冲宽度检测模块、另一端连接所述第一反相器的输入端,所述第一反相器的输出端连接所述第二反相器的输入端,所述第一反相器的输出端作为所述延时单元的输出端,所述第二反相器的输出端连接所述第二传输门的一端,所述第二传输门的另一端连接于所述第一传输门与所述第一反相器之间。
8.根据权利要求5所述的脉冲波形测试电路,其特征在于:所述读出单元包括多个DFF触发器,各DFF触发器的输入端连接各延时单元,时钟端连接同一时钟信号,将各延时单元的状态并行输出。
9.根据权利要求5所述的脉冲波形测试电路,其特征在于:所述读出单元包括多个DFF触发器,各DFF触发器的输入端连接各延时单元及前一级DFF触发器的输出端,时钟端连接同一时钟信号,将各延时单元的状态串行输出。
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