[发明专利]一种碳纳米粒子检测四氢呋喃中水分含量的方法有效
申请号: | 201610036849.3 | 申请日: | 2016-01-19 |
公开(公告)号: | CN105651749B | 公开(公告)日: | 2018-09-14 |
发明(设计)人: | 陈建;吕锟;钟维邦;李亚;王宏;张培盛 | 申请(专利权)人: | 湖南科技大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 张家界市慧诚商标专利事务所 43209 | 代理人: | 高红旺 |
地址: | 411201 *** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 纳米 粒子 检测 呋喃 水分 含量 方法 | ||
1.一种碳纳米粒子检测四氢呋喃中水分含量的方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)线性回归方程:配置不同水分含量的四氢呋喃溶液,分别加入一定量的碳纳米粒子,搅拌3分钟;测定碳纳米粒子在500nm激发时的最大荧光发射波长与其对应的荧光发射强度,将荧光发射波长变化或荧光强度变化值与四氢呋喃中水分含量值进行线性拟合,可分别得到线性回归方程;
(2)四氢呋喃中水分含量测定:取未知水分含量的四氢呋喃溶液加入一定量的碳纳米粒子,搅拌3分钟;测定碳纳米粒子在500nm激发时的最大荧光发射波长与其对应的荧光发射强度,通过与线性回归方程对比,可得到四氢呋喃中水分含量的大小。
2.根据权利要求1所述的碳纳米粒子检测四氢呋喃中水分含量的方法,其特征在于,步骤(1)和(2)中所述碳纳米粒子在四氢呋喃溶液中的浓度为0.1mg/ml。
3.根据权利要求1所述的碳纳米粒子检测四氢呋喃中水分含量的方法,其特征在于,所述的最大荧光发射强度变化值与四氢呋喃中的水分含量值的线性回归方程ΔI/I0=0.97599+0.2889×logΦ(H2O),R2=0.993;最大荧光发射波长与四氢呋喃中的水分含量值的线性回归方程为W/nm= 598.23348+17.27118×logΦ(H2O),R2=0.998。
4.根据权利要求1所述的碳纳米粒子检测四氢呋喃中水分含量的方法,其特征在于,所述碳纳米粒子的制备方法包括以下步骤:
(1)将对苯二胺和一定分子量的PEG按质量比为10:1~5,配成均匀的水溶液后,于水热反应釜中密封,置于140~180℃的烘箱中反应12~36小时;
(2)将步骤(1)反应得到的溶液浓缩至饱和,经硅胶柱对产物进行提纯,制得一种具有四氢呋喃中水分含量检测功能的碳纳米粒子。
5.根据权利要求4所述的碳纳米粒子检测四氢呋喃中水分含量的方法,其特征在于:所述PEG的分子量为400、600、800、1000、2000中任一种;对苯二胺与PEG的质量比为10:2~4,烘箱温度为150~170℃,反应时间为20~28小时。
6.根据权利要求5所述的碳纳米粒子检测四氢呋喃中水分含量的方法,其特征在于:所述PEG的分子量为600或800;对苯二胺与PEG的质量比为10:3,烘箱温度为160℃,反应时间为24小时。
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