[发明专利]一种Sb2Te3热电材料薄膜湿法刻蚀方法有效

专利信息
申请号: 201610039854.X 申请日: 2016-01-21
公开(公告)号: CN105742477B 公开(公告)日: 2018-01-12
发明(设计)人: 周奇军;魏劲松;魏涛 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: H01L35/34 分类号: H01L35/34;H01L21/465
代理公司: 上海新天专利代理有限公司31213 代理人: 张泽纯,张宁展
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 sb sub te 热电 材料 薄膜 湿法 刻蚀 方法
【权利要求书】:

1.一种Sb2Te3热电材料薄膜湿法刻蚀方法,其特征在于该方法包括以下步骤:

a)在玻璃基片上用磁控溅射的方法镀上一层Sb2Te3热电材料薄膜;

b)利用激光器对所述的Sb2Te3热电材料薄膜进行直写式曝光热作用;

c)采用刻蚀液对激光曝光热作用后的Sb2Te3热电材料薄膜进行湿法刻蚀,将经过激光热作用的区域腐蚀去除,留下激光未作用的区域。

2.根据权利要求1所述的湿法刻蚀方法,其特征在于所述的步骤c)湿法刻蚀的具体步骤如下:

将所述的Sb2Te3热电材料薄膜置于刻蚀液中,依据薄膜所需刻蚀深度选择刻蚀时间,当刻蚀深度为0-50nm,所需刻蚀时间为0-3h,对于激光曝光热作用区域,当刻蚀时间超过1h后,刻蚀速率为6nm/h,对于激光未曝光热作用区域,刻蚀速率为0.2nm/h,两者的选择刻蚀比为30。

3.根据权利要求1所述的湿法刻蚀方法,其特征在于所述的步骤c)中刻蚀液为氢氧化钠溶液,摩尔浓度为0.1mol/L。

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