[发明专利]检测液晶显示面板良率的方法在审
| 申请号： | 201610040495.X | 申请日： | 2016-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN105445977A | 公开（公告）日： | 2016-03-30 |
| 发明（设计）人： | 杨少甫 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人： | 林才桂 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检测 液晶显示 面板 方法 | ||
1.一种检测液晶显示面板良率的方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤1、提供一液晶显示母板(1)，所述液晶显示母板(1)内排布有多个液晶显示面板(11)，每一液晶显示面板(11)内均包括多个不同功能的信号线路；
步骤2、将每一液晶显示面板(11)内功能相同的信号线路均连接至一走线(12)，该走线(12)延伸至液晶显示母板(1)的外围，形成一对应于所有液晶显示面板(11)的母板集结走线(13)；
步骤3、使用各个母板集结走线(13)驱动液晶显示母板(1)，对所有液晶显示面板(11)同时进行检测。
2.如权利要求1所述的检测液晶显示面板良率的方法，其特征在于，所述液晶显示母板(1)由对应于所有液晶显示面板(11)的TFT阵列基板与彩色滤光片基板组立构成。
3.如权利要求2所述的检测液晶显示面板良率的方法，其特征在于，所述TFT阵列基板与彩色滤光片基板之间夹设有液晶层。
4.如权利要求2所述的检测液晶显示面板良率的方法，其特征在于，所述多个不同功能的信号线路制作于所述TFT阵列基板上。
5.如权利要求4所述的检测液晶显示面板良率的方法，其特征在于，所述多个不同功能的信号线路包括用于输入数据信号的数据线、与用于输入扫描信号的扫描线。
6.如权利要求1所述的检测液晶显示面板良率的方法，其特征在于，所述步骤2具体包括：将每一液晶显示面板(11)内功能相同的信号线路集结在一起形成一液晶显示面板集结走线(14)，各个功能相同的液晶显示面板集结走线(14)经由同一走线(12)延伸至液晶显示母板(1)外围形成对应的母板集结走线(13)。
7.如权利要求1所述的检测液晶显示面板良率的方法，其特征在于，所述多个液晶显示面板(11)阵列排布于液晶显示母板(1)中。
8.如权利要求7所述的检测液晶显示面板良率的方法，其特征在于，相邻的两液晶显示面板(11)之间相互间隔。
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