[发明专利]光学瞄准用标定检测方法

说明书

技术领域

本发明属于光学瞄准技术领域，特别涉及对光学瞄准系统的标定检测。

背景技术

在光学瞄准系统中，一般包含有由右仪器与左仪器组成的方位角测量传递装置。其中，右仪器内部的自准直光管的朝向与其背面的检测棱镜法线方向之间，方位角相差约180度，且不在同一个高度上。左仪器中心的中心棱镜与外部的基准棱镜之间，在方位角上彼此相差约90度，且同样不在同一个水平面内。为了保证方位角测量传递装置在长期使用后的精度稳定性，需要对右仪器和左仪器内的两个空间夹角进行经常性标定检测。常规的测量方法是采用一台准直经纬仪，分别对右仪器内部的自准直光管和检测棱镜法线方位进行测量，并测量同一个平面反射镜，以实现右仪器内两者之间夹角的测量。然后，采用该准直经纬仪，分别对左仪器的中心棱镜和外部基准棱镜法线方位进行测量，并测量同一个平面反射镜，以实现左仪器内两者之间夹角的测量。由于需要在与各个被测目标相对应的四个不同的高度和不同的位置进行四次经纬仪的架设固定和整平，并且需要分别对被测对象进行6次瞄准，该项工作是十分繁琐的。由于准直经纬仪的测量属于精密操作，进行右仪器、左仪器的标定检测是一项十分费时费力的工作，效率很低，不适用于大批量生产中的标定检测。

发明内容

本发明的目的是：提供一种光学瞄准用标定检测装置及方法，用于对方位角测量传递装置中的右仪器、左仪器内部的空间夹角进行快速标定检测，以缩短测量时间，降低测试人员的工作强度，提高工作效率。

本发明的技术方案是：一种光学瞄准用标定检测装置，它包括：光学平台，五个支撑座，四个准直经纬仪，棱镜装置，小反射镜，固定座以及安装调整座；

五个支撑座固定在光学平台上且高度可调，其中，第一支撑座上架设有第一准直经纬仪，第二支撑座上架设有第二准直经纬仪，第三支撑座上架设有第三准直经纬仪，第四支撑座上架设有第四准直经纬仪，第五支撑座上架设有棱镜装置和小反射镜；固定座固定在光学平台上，用于架设被测左仪器；

安装调整座固定在光学平台上，且位于第二支撑座和第五支撑座之间的位置，其上设有用于调整被测右仪器位置的导轨和丝杠；安装调整座俯仰可调；

第一准直经纬仪的光轴方向可调，或正对被测左仪器的中心棱镜法线方向，或与第二准直经纬仪的光轴对瞄；

第二准直经纬仪的光轴方向可调，或正对被测左仪器侧面基准棱镜法线方向，或正对被测右仪器背部的检测棱镜法线方向，或第一准直经纬仪的光轴对瞄；

第三准直经纬仪的光轴正对被测右仪器侧面反光镜的法线方向；

第四准直经纬仪的光轴正对在小反射镜的法线方向；

小反射镜安装在棱镜装置的侧面，棱镜装置的方位可调，通过调整棱镜装置的方位角，得到由第四准直经纬仪测得的棱镜装置方位角读数和被测右仪器内部自准直光管测得的失准角读数。

一种光学瞄准用标定检测方法，它包括以下步骤：

a.通过对安装在光学平台上的五个支撑座的高度进行调整，使得四个准直经纬仪的光轴中心分别与被测左仪器的中心棱镜、被测左仪器的基准棱镜、被测右仪器侧面反射镜、棱镜装置的小反射镜的中心等高；

b.利用第一准直经纬仪对被测左仪器内部的中心棱镜进行准直测量，得到角度α₁，第二准直经纬仪对被测左仪器侧面的基准棱镜进行准直测量得到角度α₂；然后，使第一准直经纬仪与第二准直经纬仪进行对瞄，第一准直经纬仪得到角度α₃，第二准直经纬仪得到角度α₄，利用公式θ₁＝180°-(α₃-α₁)-(α₂-α₄)，即可得到被测左仪器基准棱镜法线与中心棱镜法线之间的夹角θ₁，从而完成对被测左仪器的标定仪器常数的检测；