[发明专利]一种采用欠电位沉积技术制备复合铜纳米线的方法有效
申请号: | 201610041385.5 | 申请日: | 2016-01-21 |
公开(公告)号: | CN105483795B | 公开(公告)日: | 2017-12-05 |
发明(设计)人: | 王文韬;马海翔 | 申请(专利权)人: | 广州中国科学院先进技术研究所 |
主分类号: | C25D11/10 | 分类号: | C25D11/10;C25D3/38;C25D5/12;C25D5/10 |
代理公司: | 广州番禺容大专利代理事务所(普通合伙)44326 | 代理人: | 刘新年 |
地址: | 511458 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 采用 电位 沉积 技术 制备 复合 纳米 方法 | ||
1.一种采用欠电位沉积技术制备复合铜纳米线的方法,其特征在于,包括:
步骤1多孔阳极氧化铝模板的制备:先清洗除去高纯铝片表面杂质,再采用碱液去除铝片表面的氧化层,然后采用电镀方式获得粗制多孔阳极氧化铝模板后,将粗制多孔阳极氧化铝模板放入质量分数为1.5-10%的磷酸溶液中,扩孔至少3分钟,最后用去离子水冲洗干净即得多孔阳极氧化铝模板;
步骤2采用电化学沉积制备铜纳米线:配置浓度为0.05mol/L~0.1mol/L的硫酸铜溶液,再加入1-5克硼酸,得到混合电解液;以多孔阳极氧化铝为工作电极,碳棒为对电极进行电镀沉积铜纳米线,沉积结束后,用去离子水洗净多孔阳极氧化铝模板;
步骤3在铜纳米线表面欠电位沉积金属单原子层:将沉积有铜纳米线的多孔阳极氧化铝模板为工作电极,铂丝为对电极,饱和甘汞电极为参比电极,金属化合物溶解于H2SO4中的溶液为电解质溶液,进行欠电位沉积后,取出沉积有铜纳米线的多孔阳极氧化铝模板,放入碱液中,除去模板,离心洗涤至少两次,得到表面沉积有金属单原子层的铜纳米线。
2.根据权利要求1所述的采用欠电位沉积技术制备复合铜纳米线的方法,其特征在于,步骤1所述的高纯铝片表面杂质采用乙醇溶液超声20分钟去除,再用去离子水清洗。
3.根据权利要求1所述的采用欠电位沉积技术制备复合铜纳米线的方法,其特征在于,步骤1和步骤3所述的碱液为1mol/L的氢氧化钠溶液。
4.根据权利要求1所述的采用欠电位沉积技术制备复合铜纳米线的方法,其特征在于,步骤1所述的获得粗制多孔阳极氧化铝模板的电镀工艺为:以铝片作阳极,碳棒作阴极,浓度为0.1mol/L~1.0mol/L的草酸溶液为电解液,在20~60V恒压的条件下持续搅拌得到。
5.根据权利要求1所述的采用欠电位沉积技术制备复合铜纳米线的方法,其特征在于,步骤2所述电镀沉积铜纳米线为:交流电压恒定10V,沉积时间为10~100分钟制备铜纳米线。
6.根据权利要求1所述的采用欠电位沉积技术制备复合铜纳米线的方法,其特征在于,步骤3所述溶解于H2SO4中的金属化合物溶解于H2SO4中的溶液,为0.1mmol/L~0.01mol/L的金属化合物溶于0.1mol/L的H2SO4溶液中。
7.根据权利要求1或6所述的采用欠电位沉积技术制备复合铜纳米线的方法,其特征在于,所述溶解于H2SO4中的金属化合物为AgNO3、Zn(NO3)2或Ni(NO3)2。
8.根据权利要求1所述的采用欠电位沉积技术制备复合铜纳米线的方法,其特征在于,步骤3所述铜纳米线表面欠电位沉积过程为:室温下,在0~1.0V电位下,以10mV/s的扫速进行循环电位扫描,欠电位沉积20s~60s。
9.根据权利要求1所述的采用欠电位沉积技术制备复合铜纳米线的方法,其特征在于,步骤1所述磷酸溶液质量分数为5%,扩孔时间为10分钟;步骤2所述的硼酸用量为3克;步骤3所述离心洗涤为三次。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州中国科学院先进技术研究所,未经广州中国科学院先进技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610041385.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。