[发明专利]一种密封测试系统及密封测试方法有效
申请号: | 201610043823.1 | 申请日: | 2016-01-22 |
公开(公告)号: | CN105699026B | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
发明(设计)人: | 直国富 | 申请(专利权)人: | 上海严复制药系统工程有限公司 |
主分类号: | G01M3/34 | 分类号: | G01M3/34 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201400 上海市奉贤*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 密封 测试 系统 方法 | ||
1.一种密封测试方法,其应用一密封测试系统测试产品的密封程度,该密封测试系统包括密闭容器、抽真空装置、检测装置、PLC控制器,所述密闭容器具有一检测腔室和标准腔室,所述检测腔室通过第一真空隔断阀与所述标准腔室连通,所述抽真空装置通过第二真空隔断阀与所述检测腔室连通,所述检测装置设置在所述密闭容器内,所述检测装置包括微差压传感器、真空薄膜规,所述微差压传感器具有正、负端,所述微差压传感器负端、所述真空薄膜规设置在所述标准腔室内,所述微差压传感器正端设置在所述检测腔室内,微差压传感器、真空薄膜规信号输出端均与所述PLC控制器电连接;其特征在于,所述密封测试方法包括以下步骤:
S1、将待检测药品放置在检测腔室内,关闭检测腔室门,打开所述第一真空隔断阀、第二真空隔断阀,抽真空装置对密闭容器进行抽真空;
S2、待密闭容器内真空值达到预设值后,依次关闭第二真空隔断阀、第一真空隔断阀;
其中,所述真空薄膜规检测所述标准腔室内的初始真空值为P2,经过T时间后,所述真空薄膜规检测并记录T时间所述标准腔室内的标准真空值为P1,所述P1与P2之间的差压值ΔP1则为标准真空的泄漏值;
所述微差压传感器检测所述检测腔室内的初始真空值为P4,经过T时间后,所述微差压传感器检测并记录T时间时所述检测腔室内的真空值为P3,所述P3与P4之间的差压值ΔP2则为检测腔室的泄漏值;所述检测腔室的泄漏值ΔP2与所述标准真空的泄漏值ΔP1的差值ΔP为检测药品的泄漏值。
2.根据权利要求1所述的密封测试方法,其特征在于,所述密封测试系统还包括一显示装置,所述显示装置与所述PLC控制器电连接,用于显示所述微差压传感器、真空薄膜规检测的数值及所述PLC控制器所绘制出检测腔室和标准腔室内的压力变化曲线。
3.根据权利要求1所述的密封测试方法,其特征在于,所述抽真空装置包括第一真空泵、第二真空泵、第三真空泵,所述第一真空泵、第二真空泵、第三真空泵依次串联连通,所述第一真空泵与所述第二真空隔断阀连接。
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