[发明专利]岩石孔隙结构检测的光反射差装置和方法在审
申请号: | 201610044022.7 | 申请日: | 2016-01-22 |
公开(公告)号: | CN105717018A | 公开(公告)日: | 2016-06-29 |
发明(设计)人: | 赵昆;王金;詹洪磊;孙琦 | 申请(专利权)人: | 中国石油大学(北京) |
主分类号: | G01N15/08 | 分类号: | G01N15/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102249*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 岩石 孔隙 结构 检测 反射 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种光学仪器,尤其涉及一种光反射差检测岩石孔隙结构的装置及方 法。
背景技术
岩石孔隙是指存在于岩石颗粒之间,孔隙直径为纳米级别的孔隙。储集层岩石的 孔隙结构特征是指岩石所具有的孔隙和喉道的几何形状、大小、分布及其相互连通关系,是 决定流体微观运移机制的重要方面,其性质的空间分布具有自相似性,是一种具有典型分 形特征的材料,是分析油页岩储油及产油的重要指标,其研究对石油的勘探与开采有着重 要的作用。
传统的岩石孔隙结构测量方法主要有压汞法、气体吸附法、扫描电子显微成像技 术、断层扫描重构技术等。压汞法对样品的孔隙结构存在明显破坏,不能真实反映样品的孔 隙特征;气体吸附法是利用氮气、二氧化碳等不同分子直径的气体测量相应的孔径大小的 孔隙空间体积及连通程度,该方法无法评价储层岩石中没有相互连通的孔隙。扫描电子显 微成像技术可以获得高放大倍数的岩石照片,能够清晰反映二维截面的孔隙特征,但无法 对孔隙度进行定量评价。为此,本发明提出一种岩石孔隙检测的光反射差装置和方法。
发明内容
本发明的目的是克服现有岩石孔隙结构测量技术的缺陷,从而提供一种光反射差 检测岩石孔隙结构的装置及方法,该方法具有操作简单、监测时间短、系统噪声低、能定性、 定量分析岩石孔隙结构的特点。
本发明提供的光反射差法检测岩石孔隙结构的装置,包括入射光路、样品台、样品 池、出射光路、信号放大装置和数据采集和处理系统,所述入射光路包括激光器、起偏器、光 弹调制器和移相器,其中在激光器输出光前方光路上顺序设置所述起偏器、光弹调制器和 移相器;所述样品池固定在样品台上;所述出射光路包括检偏器和光电信号转换器,经样品 台上的样品反射后的出射光束前方顺序设置所述检偏器和光电信号转换器,所述光电信号 转换器通过信号放大装置连接到所述数据采集和处理系统;所述入射光路中还包括设置于 移相器和样品台之间的聚焦装置。
在上述的技术方案中,所述数据采集和处理系统包括,BNC适配器、数据采集卡和 数据处理装置;其中所述数据采集卡采集BNC适配器输出的数据,并传送给数据处理装置; 其中所述数据处理装置为电子计算机或微处理器,对数据采集卡发送来的数据进行存储、 分析和处理。
在上述的技术方案中,所述聚焦装置为聚焦透镜。
在上述的技术方案中,所述样品台为高精密三维平移台。
在上述的技术方案中,所述样品池为标准玻璃载玻片。
在上述的技术方案中,所述光电信号转换器为光电二极管。
在上述的技术方案中,所述信号放大装置为锁相放大器。
本发明利用上述装置进行岩石孔隙结构的检测方法,包括如下步骤:
1.用砂纸或磨轮将岩心端面磨平,将岩心放在岩石孔隙结构的光反射差法检测装 置的样品池上,磨平的端面向下;
2.打开激光器,输出的激光入射到起偏器,调节起偏器的透光轴方向,使其平行于 基片入射平面的P偏振方向,从起偏器出射的偏振光通过前方的光弹调制器,光弹调制器的 频率设为50kHz;
3.调节相移器,将基频信号调零,调节样品台,使光路通过样品,调节聚焦装置,使 得光汇聚在样品表面处;
4.用光电二极管做探测器,用电子计算机或微处理器对检测结果进行数据采集和 处理。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本 发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以 根据这些附图获得其他的附图。在附图中:
图1是本发明实施例中岩石孔隙结构检测的光反射差装置组成示意图;
图2是本发明实施例中岩石孔隙结构检测的光反射差装置使用流程图;
图中:
101----激光器102----起偏器103----光弹调制器104----移相器
105----聚焦装置106----样品台107----样品池108----检偏器
109----光电信号转换器110---信号放大装置111----数据采集和处理系统
具体实施方式
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