[发明专利]一种基于FinFET器件的一位全加器有效

专利信息
申请号: 201610044597.9 申请日: 2016-01-22
公开(公告)号: CN105720969B 公开(公告)日: 2018-08-14
发明(设计)人: 胡建平;张绪强 申请(专利权)人: 宁波大学
主分类号: H03K19/20 分类号: H03K19/20
代理公司: 宁波奥圣专利代理事务所(普通合伙) 33226 代理人: 方小惠
地址: 315211 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 finfet 器件 一位 全加器
【说明书】:

发明公开了一种基于FinFET器件的一位全加器,包括求和输出电路和进位输出电路,求和输出电路包括第一FinFET管、第二FinFET管、第三FinFET管、第四FinFET管、第五FinFET管、第六FinFET管、第七FinFET管、第八FinFET管、第九FinFET管和第十FinFET管,进位输出电路包括第十一FinFET管、第十二FinFET管、第十三FinFET管、第十四FinFET管、第十五FinFET管、第十六FinFET管、第十七FinFET管和第十八FinFET管;优点是求和输出电路和进位输出电路局采用差分电路形式,通过交替工作实现求和输出和进位输出,由于本发明的一位加法器是差分工作,能够完全消除电路的静态功耗;同时实现相反的逻辑输出,不需要另外加反相器得到相反的逻辑,进一步的减少了晶体管的个数,由此电路面积、延时、功耗和功耗延时积均较小。

技术领域

本发明涉及一种一位全加器,尤其是涉及一种基于FinFET器件的一位全加器。

背景技术

随着晶体管尺寸的不断缩小,受短沟道效应和当前制造工艺的限制,普通的CMOS晶体管尺寸降低的空间极度缩小。当普通CMOS晶体管的尺寸缩小到20nm以下时,器件的漏电流会急剧加大,造成较大的电路漏功耗。并且,电路短沟道效应变得更加明显,器件变得相当不稳定,极大的限制了电路性能的提高。FinFET管(鳍式场效晶体管,Fin Field-Effect Transistor)是一种新的互补式金氧半导体(CMOS)晶体管为一种新型的3D晶体管,FinFET管的沟道采用零掺杂或是低掺杂,沟道被栅三面包围。这种特殊的三维立体结构,增强了栅对沟道的控制力度,极大的抑制了短沟道效应,抑制了器件的漏电流。FinFET管具有功耗低,面积小的优点,逐渐成为接替普通CMOS器件,延续摩尔定律的优良器件之一。

一位全加器是数字运算最基本的单元,反映一位全加器的电路性能的主要指标是电路面积、延时、功耗和功耗延时积四个因素。设计一种电路面积、延时、功耗和功耗延时积均较小的基于FinFET器件的一位全加器具有重要意义。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种电路面积、延时、功耗和功耗延时积均较小的基于FinFET器件的一位全加器。

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