[发明专利]聚类引导深度神经网络分类的多源图像变化检测方法有效
申请号: | 201610045439.5 | 申请日: | 2016-01-22 |
公开(公告)号: | CN105741267B | 公开(公告)日: | 2018-11-20 |
发明(设计)人: | 马文萍;李志舟;焦李成;马晶晶;张普照;赵暐 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/10 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 程晓霞;王品华 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 引导 深度 神经网络 分类 图像 变化 检测 方法 | ||
1.一种聚类引导深度神经网络分类的多源图像变化检测方法,待处理的图像,是两个已配准的同一区域、不同时间、由不同传感器获取的多源图像,包括光学图像和TM图像,其特征在于,包括有如下步骤:
(1)输入待检测光学图像:输入多源图像中待检测光学图像的灰度矩阵;
(2)分割光学图像:采用模糊C均值聚类方法对其中待检测光学图像的灰度矩阵进行模糊聚类,得到光学图像聚类分割后的灰度矩阵;
(3)对聚类分割后的光学图像做标记:对聚类分割后图像的类别进行分类并标记,以标签Ω作为标记,Ω={Ω1,Ω2,…},Ω1,Ω2分别表示分类后的类别标签;
(4)对两图像进行采样:对光学图像和TM图像数据进行大小为n×n的块采样,采样出每个像素点对应的n2个像素点的值,对该值归一化处理,处理后得到的n2个数据,作为该像素点的采样样本,遍历整幅图像,直至采样完成两幅图中所有的像素点;
(5)在TM图像中选取训练样本:
(5a)选取候选训练样本区域,将分类后的光学图像中对应于变化检测参考图上未变化的区域作为候选训练样本区域,训练样本将在该候选训练样本区域内选取;
(5b)选取训练样本规则:在分类后的光学图像中,以像素点k为例,将像素点k的位置作为中心,取m×m的方形窗口,该方形窗口包含m2个像素点,判断该窗口除像素点k外的m2-1个像素点是否为同一类像素点,若为同一类像素点,则以光学图像中像素点k的位置为准,找出该点在TM图像灰度矩阵对应位置处的像素点k′,像素点k′的采样样本作为候选训练样本,分类后的光学图像中像素点k的值作为该候选训练样本的标签;若该窗口除像素点k外m2-1个像素点有两类或者多类像素点,则舍弃该像素点,以此过程遍历全图,直到判断完所有候选训练样本区域的像素点;
(5c)在已得到的不同标签的候选训练样本中,以标签数量最少的那类候选训练样本的数量L作为选取数量,在所有不同标签的候选训练样本中截取已选择的前L个候选训练样本作为最终的训练样本,完成对训练样本的选取;
(6)训练栈式自动编码器:建立一个由两层稀疏自动编码器组成的栈式自动编码器模型,将选取的训练样本输入到该模型中训练栈式自动编码器,得到训练完成的栈式自动编码器;
(7)微调栈式自动编码器:
将已经训练完成的栈式自动编码器的第二层稀疏自动编码器的隐藏层节点的激活值作为softmax分类器的输入,将训练样本对应的标签作为softmax分类器的输出,通过反向传导方法同时调整网络所有层的参数,完成对网络的训练;
(8)分类TM图像:将采样后的TM图像的采样样本输入到微调后的栈式自动编码器中,编码器的输出为分类好的TM图像;
(9)生成差异图:用对数比值法对分类后的光学图像和TM图像的灰度矩阵作差异图,得到光学图像和TM图像的变化检测结果。
2.根据权利要求1所述的聚类引导深度神经网络分类的多源图像变化检测方法,其特征在于,步骤(6)中所述的训练栈式自动编码器的过程包括:
(6a)栈式自动编码器模型由两层稀疏自动编码器组成,第一层稀疏自动编码器的隐藏层节点的激活值作为第二层稀疏自动编码器的输入;
(6b)将第一层稀疏自动编码器的输入层设定为n2个节点,隐藏层设定为(n+4)2个节点,第二层稀疏自动编码器的输入层与第一层稀疏自动编码器的隐藏层节点数相同,设定为(n+4)2个节点,第二层稀疏自动编码器的隐藏层设定为10个节点;
(6c)用区间[0,1]上的随机数初始化栈式自动编码器上的权值;
(6d)将选取的训练样本输入到栈式自动编码器中的第一层稀疏自动编码器,利用反向传导方法,计算第一层稀疏自动编码器的隐藏层与输出层的权值与偏置,完成第一层稀疏自动编码器的训练;
(6e)将第一层稀疏自动编码器的隐藏层节点的激活值作为第二层稀疏自动编码器的输入,利用反向传导方法,计算第二层稀疏自动编码器的隐藏层与输出层的权值与偏置,完成对栈式自动编码器的训练。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610045439.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。