[发明专利]基于等离子体约束腔的微量重金属检测的LIBS系统

权利要求书

1.一种基于等离子体约束腔的微量重金属检测的LIBS系统，其特征在于，包括：

样品台，用于固定微量重金属的待测样品，所述样品台包括样品架、平移台及样品座；

所述样品架固定于所述平移台上；

所述样品架的、沿激光入射的侧面上开设有矩形的通孔，所述通孔内部用于容纳所述待测样品；

所述样品架的、与光谱仪相对的侧面上开设有透射孔；

所述等离子体约束腔进一步用于覆盖住所述透射孔，并将所述待测样品的预设检测点罩设于所述等离子体约束腔与所述样品架的表面构成的腔室中，以使所述等离子体辐射光从狭缝中透出；

所述平移台固定于所述样品座上，所述平移台用于使所述样品架在第一预设平面内进行平移，所述第一预设平面为与所述通孔的矩形开口所在平面平行的平面；

所述样品座通过连接部件固定于底座上；所述样品座用于通过所述平移台使所述样品架在第二预设平面内进行平移，所述第二预设平面为与所述底座所在平面平行的平面；

激光器，用于根据所述待测样品的预设检测点的位置产生检测所述待测样品中所含微量重金属含量的激光；

等离子体约束腔，用于与所述样品台的表面构成一腔室，以将所述待测样品的预设检测点罩设于所述腔室中，并使所述待测样品经过所述激光照射后产生的等离子体辐射光从狭缝中透出，所述狭缝开设于所述等离子体约束腔的腔体上，所述等离子体约束腔的腔室内部结构为半球体结构或圆柱体结构；

光谱仪，用于根据所述等离子体辐射光获取所述待测样品的光谱数据；

数据处理器，用于根据所述光谱数据确定所述待测样品的重金属含量。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述狭缝的结构为半开式结构或全开式结构。

3.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述样品台进一步用于固定所述待测样品，并根据所述待测样品的预设检测点的位置调节所述待测样品的空间位置，使待测样品的预设检测点的位置与激光的聚焦点位置重合。

4.如权利要求3所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

底座，用于承载并固定所述系统中的各个部件。

5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述样品台包括：

垫片，用于将所述待测样品从所述通孔内部固定于所述样品架上。

6.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

机箱，用于安装承载所述激光器、所述光谱仪和所述样品台，覆盖各部件以阻隔激光对外界操作人员的伤害。

7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述机箱分为固定机箱部分和移动机箱部分；

所述固定机箱部分的内部用于安装所述激光器和所述光谱仪，且所述固定机箱部分的箱体上设有光纤的出口；

所述移动机箱部分用于覆盖所述样品台，且所述移动机箱部分的结构为可拆卸结构。

8.如权利要求1至7中任一项所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

光纤，用于将所述等离子体辐射光耦合进入所述光谱仪。