[发明专利]纳米颗粒的粒径细化方法及用于纳米颗粒粒径细化的系统有效
申请号: | 201610045875.2 | 申请日: | 2016-01-22 |
公开(公告)号: | CN105621354B | 公开(公告)日: | 2019-01-18 |
发明(设计)人: | 张渊明;李延钊 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | B82B3/00 | 分类号: | B82B3/00;B82Y30/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 纳米 颗粒 粒径 细化 方法 用于 系统 | ||
1.一种纳米颗粒的粒径细化方法,其特征在于,所述方法包括:
在溶液中加入第二纳米颗粒;其中,所述溶液包括第一纳米颗粒和分散剂;所述第二纳米颗粒的粒径尺寸小于所述第一纳米颗粒的粒径尺寸;
对加入有所述第二纳米颗粒的所述溶液进行超声振荡处理,使所述第二纳米颗粒与所述第一纳米颗粒发生碰撞,以细化所述第一纳米颗粒的粒径尺寸;
从所述溶液中分离得到细化后的第一纳米颗粒,包括:
根据所述第一纳米颗粒与所述第二纳米颗粒在所述分散剂中的不同分散状态,将所述第二纳米颗粒从所述溶液中分离出;
从分离出所述第二纳米颗粒的所述溶液中分离得到细化后的第一纳米颗粒;
其中,所述第二纳米颗粒与所述第一纳米颗粒为不同种材料,且所述第二纳米颗粒在所述分散剂中的分散状态与所述第一纳米颗粒不同。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从分离出所述第二纳米颗粒的所述溶液中分离得到细化后的第一纳米颗粒的步骤,包括:
通过离心分离装置从所述溶液中分离得到粒径尺寸小于或等于预设值的细化后的所述第一纳米颗粒;
其中,所述离心分离装置具有超滤膜,所述超滤膜的孔径等于所述预设值。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二纳米颗粒与所述第一纳米颗粒均为量子点。
4.一种用于纳米颗粒粒径细化的系统,其特征在于,所述系统包括:
超声振荡装置,用于对加入有第二纳米颗粒的溶液进行超声振荡,使所述第二纳米颗粒与所述溶液中的第一纳米颗粒发生碰撞,细化所述第一纳米颗粒的粒径尺寸;其中,所述溶液包括所述第一纳米颗粒和分散剂;所述第二纳米颗粒的粒径尺寸小于所述第一纳米颗粒的粒径尺寸;
分离装置,用于从所述溶液中分离得到细化后的第一纳米颗粒;
所述第一纳米颗粒为非磁性材料,所述第二纳米颗粒为磁性材料;所述第二纳米颗粒和所述溶液承装在第一容器中;
所述系统还包括:
磁场控制装置,用于使所述第二纳米颗粒聚集在所述第一容器的底部或侧壁上;
所述分离装置包括:离心分离装置;
通过所述离心分离装置从分离出所述第二纳米颗粒的所述溶液中分离得到粒径尺寸小于或等于预设值的细化后的所述第一纳米颗粒;
其中,所述离心分离装置具有超滤膜,所述超滤膜的孔径等于所述预设值。
5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述系统还包括:
分别与所述超声振荡装置、所述离心分离装置相连的数据收集装置,用于收集所述超声振荡装置的超声振荡参数和所述离心分离装置的离心参数。
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