[发明专利]液晶面板影像残留检测方法和装置

权利要求书

1.一种液晶面板影像残留检测方法，其特征在于，包括：

使液晶面板显示标准棋盘格画面一时间值后，改变画面为一指定灰阶并获取影像残留图像；

分别对所述标准棋盘格画面的数字图像和所述影像残留图像进行傅里叶变换得到第一能量频谱和第二能量频谱；其中，所述第一能量频谱对应所述标准棋盘格画面的数字图像，所述第二能量频谱对应所述影像残留图像；

将所述第一能量频谱和所述第二能量频谱分别转化到极坐标内，并分别对所述第一能量频谱和所述第二能量频谱在极坐标内的函数关于极角在每个频率下做0到2π求和，得到棋盘格能量频谱和残影能量频谱；

求得所述棋盘格能量频谱的所有能量值中的最大值对应的特征频率；

求得所述残影能量频谱的频率值分别为所述特征频率和零频时对应的第一能量值和第二能量值；

用所述第一能量值除以所述第二能量值得到残影评价值。

2.根据权利要求1所述的液晶面板影像残留检测方法，其特征在于，所述分别对所述标准棋盘格画面和所述影像残留图像进行傅里叶变换得到第一能量频谱和第二能量频谱的步骤中，具体包括：

分别将所述标准棋盘格画面的数字图像和所述影像残留图像经傅里叶变换得到的函数的零频分量平移至对应的频谱矩阵的中心，获得所述第一能量频谱和第二能量频谱。

3.根据权利要求1所述的液晶面板影像残留检测方法，其特征在于，通过对构成所述标准棋盘格画面的数字图像的矩阵进行赋值获得所述标准棋盘格画面的数字图像。

4.根据权利要求1所述的液晶面板影像残留检测方法，其特征在于，所述液晶面板影像残留检测方法还包括：

采用“恰可分辨差异”模型(Just-noticeable differences,JND)，改变所述影像残留图像的JND值，求得不同所述JND值对应的所述残影评价值。

5.根据权利要求1或4所述的液晶面板影像残留检测方法，其特征在于，通过对标准棋盘格画面进行多次持续显示所述一时间值后，在同一灰阶值下采用JND模型得到不同的所述影像残留图像的JND值。

6.根据权利要求1所述的液晶面板影像残留检测方法，其特征在于，所述影像残留图像通过标准照相手法获得。

7.一种液晶面板影像残留检测装置，其特征在于，包括获取单元、处理单元：

所述获取单元用于获取影像残留图像；

所述处理单元用于生成标准棋盘格画面的数字图像，并分别对所述标准棋盘格画面的数字图像和所述影像残留图像进行傅里叶变换得到第一能量频谱和第二能量频谱；其中，所述第一能量频谱对应所述标准棋盘格画面的数字图像，所述第二能量频谱对应所述影像残留图像；

将所述第一能量频谱和所述第二能量频谱分别转化到极坐标内，并分别对所述第一能量频谱和所述第二能量频谱在极坐标内的函数关于极角在每个频率下做0到2π求和，得到棋盘格能量频谱和残影能量频谱；

求得所述棋盘格能量频谱的所有能量值中的最大值对应的特征频率；

求得所述残影能量频谱的频率分别为所述特征频率和零频时对应的第一能量值和第二能量值；

用所述第一能量值除以所述第二能量值得到残影评价值。

8.根据权利要求7所述的液晶面板影像残留检测装置，其特征在于，所述液晶面板影像残留检测装置还包括显示单元，所述显示单元用于显示所述残影评价值。