[发明专利]一种设备缺陷综合检测系统

权利要求书

1.一种设备缺陷综合检测系统，其特征在于，该检测系统基于超声、红外及 紫外进行设备缺陷检测，包括：

综合检测装置，基于超声、红外及紫外对被测设备进行图像采集；

设备缺陷库，存储有各类被测设备的检测案例和故障案例；

状态分析装置，接收所述综合检测装置采集的图像数据，将该图像数据与设备 缺陷库进行比对，获得被测设备的状态并输出。

2.根据权利要求1所述的设备缺陷综合检测系统，其特征在于，所述综合检 测装置包括：

超声波可视模块，用于同步采集超声阵列信号和可见光图像并对超声阵列信号 和可见光图像进行合成，获得超声可见光图像；

红外检测模块，用于与所述超声波可视模块同步采集红外图像；

紫外检测模块，用于与所述超声波可视模块同步采集紫外图像；

控制显示模块，用于对所获取的超声可见光图像、红外图像和紫外图像进行合 成处理并显示；

电源，用于对所述超声波可视模块、红外检测模块、紫外检测模块和控制显示 模块供电。

3.根据权利要求2所述的设备缺陷综合检测系统，其特征在于，所述超声波 可视模块包括超声传感器阵列、超声放大电路、摄像头、模数转换器、第一图像合 成单元和第一显示器，所述超声传感器阵列、超声放大电路和模数转换器依次连接， 所述摄像头与模数转换器连接，所述模数转换器、第一图像合成单元和第一显示器 依次连接，第一图像合成单元将超声传感器阵列采集的超声阵列信号和摄像头采集 的可见光图像进行合成，并显示于第一显示器中。

4.根据权利要求3所述的设备缺陷综合检测系统，其特征在于，所述超声传 感器阵列由16只摆放在不同位置的超声传感器组成；

16只所述超声传感器具体摆放位置为：每四个超声传感器构成一组线型阵， 形成上、下、左、右四组线型阵，组成二维方形阵。

5.根据权利要求3所述的设备缺陷综合检测系统，其特征在于，所述超声放 大电路为双极放大电路，该双极放大电路的每级电路都采用负反馈放大电路，且两 级放大电路之间用电容隔离直流成分。

6.根据权利要求4所述的设备缺陷综合检测系统，其特征在于，所述第一图 像合成单元将超声阵列信号和可见光图像进行合成的具体过程为：

S101、将每组线型阵中每个超声传感器采集的超声信号进行叠加生成指向性 信号；

S102、利用以下公式分别对上下线型阵和左右线型阵的指向信号进行延时相 关计算：

C_TB(n)＝ΣS_T(t+n)·S_B(t)

C_LR(n)＝ΣS_L(t+n)·S_R(t)

其中，C_TB(n)和C_LR(n)分别为上下线型阵和左右线型阵指向信号的相关系数， S_T(t)、S_B(t)、S_L(t)和S_R(t)为上、下、左、右线型阵的指向性信号；

S103、分别选取C_TB(n)和C_LR(n)的最大值作为超声源位置的垂直坐标和水平坐 标；

S104、以步骤S103中所述的超声源位置为中心，C_TB(n)和C_LR(n)的最大值为幅 值，生成二维高斯函数，形成二维矩阵；

S105、将可见光图像作为背景、步骤S104中所述的二维矩阵作为前景，合成 为超声可见光图像并发送给第一显示器进行显示。

7.根据权利要求2所述的设备缺陷综合检测系统，其特征在于，所述红外检 测模块包括红外热像仪，所述紫外检测模块包括紫外热像仪。