[发明专利]一种应用于近阈值SAR ADC的二进制电容阵列及其低功耗开关方法有效
申请号: | 201610056385.2 | 申请日: | 2016-01-27 |
公开(公告)号: | CN105553479B | 公开(公告)日: | 2018-08-10 |
发明(设计)人: | 吴建辉;吴爱东;杜媛;陈超;李红;张萌 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | H03M1/46 | 分类号: | H03M1/46 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 黄成萍 |
地址: | 211189 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 应用于 阈值 sar adc 二进制 电容 阵列 及其 功耗 开关 方法 | ||
1.一种应用于近阈值SAR ADC的二进制电容阵列,其特征在于:对N比特的SARADC,整个电容阵列分为正负两端相等的两个电容阵列,每个电容阵列包括一个最高位电容CN-3、N-4个高位电容、一个最低位电容Cu和一个dummy电容CD,除最高位电容CN-3、最低位电容Cu和dummy电容CD外,其余每个高位电容均由两个相等的电容组成,并且这两个电容在数值上均等于该高位电容的次高位电容;具体为:
①最高位电容CN-3
最高位电容CN-3先分裂为两个电容C'N-4,1和C'N-4,2,C'N-4,1和C'N-4,2在数值上等于次高位电容CN-4,即C'N-4,1=C'N-4,2=CN-4;电容C'N-4,1再分裂为两个电容C'N-5,1和C'N-5,2,同时C'N-4,2也分裂为两个电容C'N-5,1和C'N-5,2,C'N-5,1和C'N-5,2在数值上等于第三高位电容CN-5,即C'N-5,1=C'N-5,2=CN-5;因此,最高位电容CN-3的公式表达形式如下:
即:
②次高位电容CN-4到第N-3高位电容C1
高位电容Ci分裂为两个电容C'i-1,1和C'i-1,2,C'i-1,1和C'i-1,2在数值上等于次高位电容Ci-1,即C'i-1,1=C'i-1,2=Ci-1;因此,次高位电容CN-4到第N-3高位电容C1的公式表达形式如下:
Ci=C'i-1,1+C'i-1,2,N-4≥i≥1
④最低位电容Cu和一个dummy电容CD
最低位电容Cu和dummy电容CD均为单位电容,且Cu=CD=C0;
每个电容阵列中,电容C'i-1,1的参考电平复位状态与电容C'i-1,2的参考电平复位状态的连接方式相反,即电容C'i-1,1的下极板连接参考电压Vref,电容C'i-1,2的下极板连接GND;两个电容阵列中,除最低位电容Cu和dummy电容CD外,其余电容的连接方式相同,正端的最低位电容Cu在参考电平复位状态时下极板连接参考电压Vref,正端的dummy电容CD在参考电平复位状态时下极板连接GND,负端的最低位电容Cu在参考电平复位状态时下极板连接GND,负端的dummy电容CD在参考电平复位状态时下极板连接参考电压Vref。
2.一种应用于近阈值SAR ADC的二进制电容阵列的低功耗开关方法,其特征在于:对于一个输入信号,经过N比特的SAR ADC的二进制转换后,得到DNDN-1…D2D1的数字码,包括如下步骤:
步骤一:采样阶段
每个电容阵列中,电容C'i-1,1的参考电平复位状态与电容C'i-1,2的参考电平复位状态的连接方式相反,即电容C'i-1,1的下极板连接参考电压Vref,电容C'i-1,2的下极板连接GND;两个电容阵列中,除最低位电容Cu和dummy电容CD外,其余电容的连接方式相同,正端的最低位电容Cu在参考电平复位状态时下极板连接参考电压Vref,正端的dummy电容CD在参考电平复位状态时下极板连接GND,负端的最低位电容Cu在参考电平复位状态时下极板连接GND,负端的dummy电容CD在参考电平复位状态时下极板连接参考电压Vref;
两个电容阵列中,电容的上极板参与电压采样:正端电容阵列中所有电容的上极板连接采样电压Vip,负端电容阵列中所有电容的上极板连接采样电压Vin;
步骤二:转换阶段,确定DN、DN-1与DN-2位
(21)首先确定DN、DN-1与DN-2位,需要用到三组次高位电容,分别记为第一组次高位电容、第二组次高位电容和第三组次高位电容,其中两组次高位电容组成最高位电容;对正端电压Vip和负端电压Vin直接进行一次比较,结果记为DN,对得到的DN进行分情况讨论:
情况一:若DN=1,则将正端的第一组次高位电容的分裂电容C'N-5,1下极板从Vref转到GND,将负端的第一组次高位电容的分裂电容C'N-5,2下极板从GND转到Vref,这样整个DAC的差分电压将减少记为Vdiff,1,再次对正端电压Vip和负端电压Vin进行一次比较,结果记为A1;
情况二:若DN=0,则将正端的第一组次高位电容的分裂电容C'N-5,2下极板从GND转到Vref,将负端的第一组次高位电容的分裂电容C'N-5,1下极板从Vref转到GND,这样整个DAC的差分电压将增加记为Vdiff,1,再次对正端电压Vip和负端电压Vin进行一次比较,结果记为A1;
(22)对得到的DN和A1进行分情况讨论:
情况三:若DN≠A1,则直接确定DN-1=A1,DN-2=A1;此时整个DAC的差分电压记为Vdiff,3,比较器的结果为A1,转入步骤三;
情况四:若DN=A1=1,将正端的第二组次高位电容的分裂电容C'N-5,1下极板从Vref转到GND,将负端的第二组次高位电容的分裂电容C'N-5,2下极板从GND转到Vref,这样整个DAC的差分电压将减少记为Vdiff,2,再次对正端电压Vip和负端电压Vin进行一次比较,结果记为A2;
情况五:若DN=A1=0,将正端的第二组次高位电容的分裂电容C'N-5,2下极板从GND转到Vref,将负端的第二组次高位电容的分裂电容C'N-5,1下极板从Vref转到GND,这样整个DAC的差分电压将增加记为Vdiff,2,再次对正端电压Vip和负端电压Vin进行一次比较,结果记为A2;
(23)对得到的A1和A2进行分情况讨论:
情况六:若A1≠A2,则直接确定DN-1=A2,DN-2=A1;此时整个DAC的差分电压记为Vdiff,3,比较器的结果为A2,转入步骤三;
情况七:若A1=A2=1,将正端的第三组次高位电容的分裂电容C'N-5,1下极板从Vref转到GND,将负端的第三组次高位电容的分裂电容C'N-5,2下极板从GND转到Vref,这样整个DAC的差分电压将减少记为Vdiff,3,再次对正端电压Vip和负端电压Vin进行一次比较,结果记为A3;确定DN-1=A1=A2,DN-2=A3,比较器的结果为A3,转入步骤三;
情况八:若A1=A2=0,将正端的第三组次高位电容的分裂电容C'N-5,2下极板从GND转到Vref,将负端的第三组次高位电容的分裂电容C'N-5,1下极板从Vref转到GND,这样整个DAC的差分电压将增加记为Vdiff,3,再次对正端电压Vip和负端电压Vin进行一次比较,结果记为A3;确定DN-1=A1=A2,DN-2=A3,比较器的结果为A3,转入步骤三;
步骤三:转换阶段,确定DN-3到D3位
(31)根据比较器的结果,确定DN-3
若比较器的结果为1,将正端的第三高位电容的分裂电容C'N-6,1下极板从Vref转到GND,将负端的第三高位电容的分裂电容C'N-6,2下极板从GND转到Vref,这样整个DAC的差分电压将减少记为Vdiff,4,再次对正端电压Vip和负端电压Vin进行一次比较,结果记为DN-3;
若比较器的结果为0,将正端的第三高位电容的分裂电容C'N-6,2下极板从GND转到Vref,将负端的第三高位电容的分裂电容C'N-6,1下极板从Vref转到GND,这样整个DAC的差分电压将增加记为Vdiff,4,再次对正端电压Vip和负端电压Vin进行一次比较,结果记为DN-3;
(32)采用步骤(31)的方法,根据DN-3,确定DN-4
若比较器的结果为1,将正端的第四高位电容的分裂电容C'N-7,1下极板从Vref转到GND,将负端的第四高位电容的分裂电容C'N-7,2下极板从GND转到Vref,这样整个DAC的差分电压将减少记为Vdiff,5,再次对正端电压Vip和负端电压Vin进行一次比较,结果记为DN-4;
若比较器的结果为0,将正端的第四高位电容的分裂电容C'N-7,2下极板从GND转到Vref,将负端的第四高位电容的分裂电容C'N-7,1下极板从Vref转到GND,这样整个DAC的差分电压将增加记为Vdiff,5,再次对正端电压Vip和负端电压Vin进行一次比较,结果记为DN-4;
(33)采用步骤(31)和(32)的方法,根据比较器的结果修改第三组次高位电容次一级权重的分裂电容下极板的连接,确定DN-5到D3位;
步骤四:转换阶段,确定D2到D1位
(41)若D3=1,将正端和负端的最低位电容Cu的下极板进行短接形成联合电容,由于之前的转换过程中,DAC的共模电压保持不变,所以短接后,正端和负端的最低位电容Cu的下极板都变为Vcm,即整个DAC的差分电压将减少记为Vdiff,N-2;再次对正端电压Vip和负端电压Vin进行一次比较,结果记为D2;
若D3=0,将正端和负端的dummy电容CD的下极板进行短接形成联合电容,由于之前的转换过程中,DAC的共模电压保持不变,所以短接后,正端和负端的dummy电容CD的下极板都变为Vcm,即整个DAC的差分电压将增加记为Vdiff,N-2;再次对正端电压Vip和负端电压Vin进行一次比较,结果记为D2;
(42)若D2=1,将联合电容断开,原正端的联合电容下极板由联合状态变为连接GND,原负端的联合电容下极板由联合状态变为浮置状态;这样整个DAC的差分电压将减少记为Vdiff,N-1;再次对正端电压Vip和负端电压Vin进行一次比较,结果记为D1;
若D2=0,将联合电容断开,原正端的联合电容下极板由联合状态变为浮置状态,原负端的联合电容下极板由联合状态变为连接GND;这样整个DAC的差分电压将增加记为Vdiff,N-1;再次对正端电压Vip和负端电压Vin进行一次比较,结果记为D1。
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