[发明专利]一种白光封装LED的分光测试系统及方法在审
申请号: | 201610059368.4 | 申请日: | 2016-01-28 |
公开(公告)号: | CN105738079A | 公开(公告)日: | 2016-07-06 |
发明(设计)人: | 王海超;马世国;孙敏毅;李明月 | 申请(专利权)人: | 易美芯光(北京)科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人: | 胡剑辉 |
地址: | 100176 北京市大兴区经济技*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 白光 封装 led 分光 测试 系统 方法 | ||
技术领域
本发明属于半导体照明应用的技术领域,具体地涉及一种白光封装LED的分光测试系统,以及测试方法,主要应用在照明及背光产品上。
背景技术
传统的白光封装LED的分光测试,采用手动离线存档数据,手动打印标签,离线编写测试程式。数据只能存储在移动存储设备或设备主机中,不能即时调用数据,且数据极容易被删除。分光测试机的程序编写后,只能离线放置,极易混淆出错。机器满BIN(即预设容量)后,沿用手写BIN级,人为手动设计标签样式,不规范且非常容易出错。出现品质问题后,无法追溯到产品生产的信息。
发明内容
本发明的技术解决问题是:克服现有技术的不足,提供一种白光封装LED的分光测试系统,其能够自动下载测试分光程式,并实时上传测试数据,且分光满BIN后自动打印对应的等级标签,从根源上解决了白光封装LED分光测试信息的难追溯问题。
本发明的技术解决方案是:这种白光封装LED的分光测试系统,其包括初始化模块、BIN管满处理模块、BIN管未满处理模块、标签打印模块;
初始化模块,其配置来扫描测试批次、获取产品型号及数量信息、下
载测试程式;
BIN管满处理模块,其配置来扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库;
BIN管未满处理模块,其包括良品处理单元和不良品处理单元;良品处理单元配置来清良品或手动控制,然后扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库;不良品处理单元,其配置来清不良品,通过标签打印模块来打印其标签,然后对余数进行重测;
标签打印模块,其配置来打印所测试LED的机台号、产品型号和BIN管号、满BIN数量、BIN编码、测试批次号。
还提供了一种白光封装LED的分光测试方法,包括以下步骤:
(1)扫描测试批次;
(2)获取产品型号及数量信息;
(3)下载测试程式;
(4)获得开始测试的信号;
(5)判断是否BIN管满,是则执行步骤(6),否则执行步骤(9);
(6)扫描BIN管信息;
(7)获取BIN编码和满管数量;
(8)将满管信息以及关联批次写入数据库,跳转到步骤(17);
(9)判断是否为良品,是则执行步骤(10),否则执行步骤(14);
(10)清良品或手动控制;
(11)扫描BIN管信息;
(12)获取BIN编码和满管数量;
(13)将满管信息以及关联批次写入数据库,跳转到步骤(17);
(14)清不良品;
(15)通过标签打印模块来打印其标签;
(16)对余数进行重测,跳转到步骤(1);
(17)打印标签,标签上写有所测试LED的机台号、产品型号和BIN管号、满BIN数量、BIN编码、测试批次号。
本发明通过初始化模块来扫描测试批次、获取产品型号及数量信息、下载测试程式,通过BIN管满处理模块来扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库,通过BIN管未满处理模块来扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库,或者来清不良品,通过标签打印模块来打印其标签,然后对余数进行重测,通过标签打印模块来打印所测试LED的机台号、产品型号和BIN管号、满BIN数量、BIN编码、测试批次号,因此能够自动下载测试分光程式,并实时上传测试数据,且分光满BIN后自动打印对应的等级标签,从根源上解决了白光封装LED分光测试信息的难追溯问题。
附图说明
图1示出了根据本发明的白光封装LED的分光测试系统的一个优选实施例的结构示意图。
图2示出了根据本发明的白光封装LED的分光测试方法的流程图。
图3示出了基础数据。
图4示出了根据本发明的关联步骤的流程图。
(根据专利审查指南的相关规定,附图要求为黑色线条或文字、白色背景的图,所以请将图2中的黄色部分全部改为与背景相同的白色)
具体实施方式
如图1所示,本发明的这种白光封装LED的分光测试系统,其包括初始化模块、BIN管满处理模块、BIN管未满处理模块、标签打印模块;
初始化模块,其配置来扫描测试批次、获取产品型号及数量信息、下
载测试程式;
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