[发明专利]一种改变太赫兹波偏振态的系统和方法

权利要求书

1.一种改变太赫兹波偏振态的系统，其特征在于，包括变波长光参量放大器、太赫兹波发生器、太赫兹波探测器、金属平面镜、BBO倍频晶体、抛物面镜、平移台、硅片、长波长滤光片，其中，所述平移台上方设置所述金属平面镜，所述金属平面镜一侧设置所述打孔抛物面镜，所述抛物面镜一侧设置所述太赫兹波探测器，其中，所述变波长光参量放大器用于使入射激光脉冲的波长等间距连续变化；所述抛物面镜用于将入射激光脉冲经过聚焦BBO晶体倍频后聚焦在空气中产生空气等离子体，在电场的作用下加速运动向外辐射太赫兹波；所述ZnTe晶体用于探测经离轴抛物面镜收集后的太赫兹波，并将探测所得到的信息输入差分探头中进行太赫兹时域光谱扫描，得到太赫兹的时域光谱图，经过数据处理分析太赫兹波的偏振随波长变化的图像。

2.根据权利要求1所述的改变太赫兹波偏振态的的系统，其特征在于：所述变波长光参量放大器可出射任意波长的激光脉冲。

3.根据权利要求1所述的改变太赫兹波偏振态的的系统，其特征在于：所述太赫兹波发生器为空气等离子体产生器。

4.根据权利要求1所述的改变太赫兹波偏振态的的系统，其特征在于：所述太赫兹波探测器为电光取样探测器。

5.一种改变太赫兹波偏振态的方法，其特征在于，包括以下步骤：

利用可改变波长的光参量放大器使入射激光脉冲的波长等间距连续变化；

将所述的入射激光脉冲经过抛物面镜聚焦BBO晶体倍频后聚焦在空气中产生空气等离子体，在电场的作用下加速运动向外辐射太赫兹波；

产生的太赫兹波经离轴抛物面镜收集后用ZnTe晶体探测；

探测所得到的信息输入差分探头中进行太赫兹时域光谱扫描，得到太赫 兹的时域光谱图，经过数据处理分析太赫兹波的偏振随波长变化的图像。

6.根据权利要求5所述的改变太赫兹波偏振态的方法，其特征在于：所述激光脉冲波长在长波长范围内为1300nm-1500nm。

7.根据权利要求5所述的改变太赫兹波偏振态的方法，其特征在于：所述BBO倍频晶体符合长波长最佳位相匹配角。

8.根据权利要求5所述的改变太赫兹波偏振态的方法，其特征在于：波长等间距间隔为20nm。