[发明专利]识别点密度的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及空间分析领域，具体涉及一种识别点密度的方法和装置。

背景技术

在二维空间中识别点分布密集区，通常采用2种密度分析方法。一 种是点密度分析，第二种是基于点要素的核密度分析。

点密度分析为每一个栅格中心周围都定义了一个邻域，将邻域内点 的数量相加，然后除以邻域面积，即得到点要素的密度。在点密度分析 中，针对点密度计算中的每个点，需要循环计算该点的领域，统计该点 的相邻点，相邻点总和除以邻域的面积，得到该点的点密度。

基于点要素的核密度分析是在每点上方均覆盖着一个平滑曲面。在 该点所在位置处表面值最高，随着与点的距离的增大表面值逐渐减小， 在与点的距离等于搜索半径的位置处表面值为零。每个输出栅格像元的 密度均为叠加在栅格像元中心的所有核表面的值之和。

这两种方法共同特点是计算工作量比较大，需要对每个点多次遍历 计算，而且随着点数量的增加，计算量指数增加，不适合海量样本点和 精确度要求低但时效性要求高的密集区分析场景。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种识别点密度的方法和装置，以解决上述 问题。

根据本发明的第一方面，提供一种识别点密度的方法，包括：接收 坐标点集合和密度区范围参数，所述坐标点包括经度值和纬度值；将所 述坐标点集合的所属区域按照经度方向均分为M个网格，将所述坐标点集 合的所属区域按照纬度方向均分为N个网格，分别计算所述M个网格中的 每个网格的点密度XSEC[i]，i∈M，和所述N个网格中的每个网格的点密度 YSEC[j]，j∈N；计算M*N个网格中的每个网格的点密度，其公式为： XYSEC[i][j]＝XSEC[i]*YSEC[j]，i∈M，j∈N，其中M，N为正整数。

优选地，还包括：根据所述网格的点密度识别超过所述密度区范围 参数的点密集区。

优选地，所述识别超过设定阈值的点密集区包括：从M*N个网格中 选择点密度最大的网格作为第一网格；从所述第一网格的相邻网格中选 择点密度最大的网格作为第二网格；从所述第一网格和第二网格的相邻 网格中选择点密度最大的网格作为第三网格；以及重复所述选择点密度 最大的网格的步骤，直到所述第一网格、第二网格至第n网格的点密度之 和大于所述密度区范围参数，则所述第一网格至所述第n网格组成的区域 为点密集区，n为正整数。

优选地，所述计算M个网格和N个网格的点密度包括统计所述坐标点 集合的所属区域的坐标点总数；确定所述坐标点集合中的每个坐标所属 的网格；以及根据每个网格中的坐标点个数除以所述坐标点总数获得所 述网格的点密度。

优选地，M和N都等于1024。

根据本发明的第二方面，提供一种识别点密度的装置，包括：接收 模块，用于接收坐标点集合和密度区范围参数；一维处理模块，用于将 所述坐标点集合的所属区域按照经度方向均分为M个网格，将所述坐标点 集合所属区域按照纬度方向均分为N个网格，分别计算所述M个网格中的 每个网格的点密度XSEC[i]，i∈M，和所述N个网格中的每个网格的点密度 YSEC[j]，j∈N；以及二维处理模块，用于计算M*N个网格中的每个网格的 点密度，其公式为：XYSEC[i][j]＝XSEC[i]*YSEC[j]，i∈M，j∈N，其 中M，N为正整数。

优选地，还包括：识别模块，用于根据所述网格的点密度和密度区 范围参数识别包括多个网格的点密集区。

优选地，所述识别模块包括：从M*N个网格中选择点密度最大的网 格作为第一网格；从所述第一网格的相邻网格中选择点密度最大的网格 作为第二网格；从所述第一网格和第二网格的相邻网格中选择点密度最 大的网格作为第三网格；以及重复所述选择点密度最大的网格的步骤， 直到所述第一网格、第二网格至第n网格的点密度之和大于所述密度区范 围参数，则所述第一网格至所述第n网格组成的区域为点密集区，n为正 整数。

优选地，所述一维处理模块包括：统计单元，用于统计所述坐标点 集合所属区域的坐标点总数；网格计算单元，用于计算每个网格中的坐 标点个数；点密度计算单元，用于根据每个网格中的坐标点个数除以所 述坐标点总数获得所述网格的点密度。

优选地，M和N都等于1024。