[发明专利]检测消逝场与古斯汉欣位移关系的方法、装置及光学器件

权利要求书

1.一种检测消逝场与古斯汉欣位移关系的方法，其特征在于，所述方法包括：

根据光在消逝场中的受力函数和势场函数的物理含义，获得消逝场对全反射光的势场函数；

结合所述消逝场对全反射光的势场函数，通过薛定谔方程得到微扰后全反射光的波函数；

对比所述微扰后全反射光的波函数和没有消逝场作用时的自由全反射光的波函数，全反射光在消逝场的作用下获得与消逝场的动量性质相同的动量；

所述光在消逝场中的受力函数以表示，具体为：

其中，是电磁场的能量密度；ω表示角速度；γ＝(8πω)^-1是高斯单元；对于线偏振光，电场和磁场的偏振度相等α_e＝α_m＝α；表示轨道动量；和分别表示电场和磁场振幅；w_e和w_m分别表示电场和磁场的能量密度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述消逝场对全反射光的势场函数以表示，具体为：

其中是光在势场中的位置变化。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述结合所述消逝场对全反射光的势场函数，通过薛定谔方程得到微扰后全反射光的波函数具体包括：

步骤S11，将消逝场对全反射光的势场函数表示为和微扰后全反射光的波函数表示为在t1时刻受到消逝场微扰的关系通过薛定谔方程表示如下：

其中H₀为哈密顿量，m为光的运动质量，为光的位置矢量，为标准化普朗克常数；

步骤S12，根据光在消逝场中的受力函数获得消逝场对全反射光的势场函数的新表达式如下：

其中，γ＝(8πω)^-1为高斯单元，α_e、α_m分别是电场和磁场的偏振度，k^(t)为消逝场的波数，和分别表示电场和磁场振幅；

步骤S13，以消逝场对全反射光的势场函数的新表达式替换薛定谔方程中对应的函数，获得微扰后全反射光的波函数具体如下：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述没有消逝场作用时的自由全反射光的波函数具体为：

其中，所述动量获取单元具体用于比较微扰后全反射光的波函数ψ和没有消逝场作用时的自由全反射光的波函数全反射光在消逝场的作用下获得了与消逝场的动量性质相同的动量

5.一种检测消逝场与古斯汉欣位移关系的装置，其特征在于，所述装置包括：

势场获取单元，用于根据光在消逝场中的受力函数和势场函数的物理含义，获得消逝场对全反射光的势场函数；

波函数获得单元，用于结合所述消逝场对全反射光的势场函数，通过薛定谔方程得到微扰后全反射光的波函数；

动量获取单元，用于对比所述微扰后全反射光的波函数和没有消逝场作用时的自由全反射光的波函数，全反射光在消逝场的作用下获得与消逝场的动量性质相同的动量；

所述光在消逝场中的受力函数以表示，具体为：

其中，是电磁场的能量密度；ω表示角速度；γ＝(8πω)^-1是高斯单元；对于线偏振光，电场和磁场的偏振度相等α_e＝α_m＝α；表示轨道动量；和分别表示电场和磁场振幅；w_e和w_m分别表示电场和磁场的能量密度。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述消逝场对全反射光的势场函数以表示，具体为：

其中是光在势场中的位置变化。