[发明专利]一种发光体表面发光均匀性检测装置、方法及系统

权利要求书

1.一种发光体表面发光均匀性检测装置，其特征在于，所述发光体表面发光均匀性检测装置包括发光体固定支架、图像采集设备以及图像处理设备，其中：

所述发光体固定支架，用于对发光体进行固定，所述发光体固定支架上设有若干个设置在所述发光体四周的反光棱镜；

所述图像采集设备用于对固定在所述发光体固定支架上的发光体发射的光进行图像采集，采集到的图像包括前面图像和若干个侧面图像；

所述图像处理设备用于对前面图像和若干个侧面图像进行处理，获取发光体的均匀性参数值，所述发光体的均匀性参数包括发光体所有面单色均匀性参数和发光体所有单个面单色标准差参数；

所述图像处理设备还用于根据所述图像采集设备的镜头中心和所述发光体的直线距离与所述反光棱镜的反射光程之间的光路差值，计算亮度值补偿率，根据计算得到的亮度值补偿率，对若干个侧面图像所对应的单色平均亮度值进行亮度补偿。

2.根据权利要求1所述的发光体表面发光均匀性检测装置，其特征在于，所述图像采集设备的镜头中心与所述发光体的中心的连线与水平面平行；

所述反光棱镜的数量为四个，四个所述反光棱镜均匀的设置在所述发光体四周。

3.一种基于权利要求1所述的发光体表面发光均匀性检测装置的发光体表面发光均匀性检测方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：

控制图像采集设备对发光体进行图像采集，采集到的图像包括前面图像和若干个侧面图像；

对采集到的图像进行单色均匀性处理，获取发光体所对应的所有面的单色均匀性参数值；

对采集到的图像进行单个面单色的像素亮度值处理，获取发光体的所有单个面单色像素亮度值的标准差参数值；

还包括下述步骤：

根据图像采集设备的镜头中心和发光体的直线距离与反光棱镜的反射光程之间的光路差值，计算亮度值补偿率；

根据计算得到的亮度值补偿率，对若干个侧面图像所对应的单色平均亮度值进行亮度补偿。

4.根据权利要求3所述的发光体表面发光均匀性检测方法，其特征在于，所述对采集到的图像进行单色均匀性处理，获取发光体所对应的所有面的单色均匀性参数值的步骤具体包括下述步骤：

对采集到的图像进行亮度值计算，获取发光体所有面的单色平均亮度值；

对所有面的单色平均亮度值进行遍历，获取单色最大平均亮度值和最小平均亮度值；

根据所述单色最大平均亮度值和最小平均亮度值，计算获取发光体所对应的所有面的单色均匀性参数值。

5.根据权利要求3所述的发光体表面发光均匀性检测方法，其特征在于，所述对采集到的图像进行单个面单色的像素亮度值处理，获取发光体的所有单个面单色像素亮度值的标准差参数值的步骤具体包括下述步骤：

对采集到的图像进行亮度值计算，获取发光体所有面的单色平均亮度值；

计算发光体的所有单个面单色像素亮度值的标准差参数值。

6.一种基于权利要求3所述的发光体表面发光均匀性检测方法的发光体表面发光均匀性检测系统，其特征在于，所述发光体表面发光均匀性检测系统内置于所述图像处理设备内，所述发光体表面发光均匀性检测系统包括：

图像采集控制模块，用于控制图像采集设备对发光体进行图像采集，采集到的图像包括前面图像和若干个侧面图像；

单色均匀性处理模块，用于对采集到的图像进行单色均匀性处理，获取发光体所对应的所有面的单色均匀性参数值；

单色像素亮度值处理模块，用于对采集到的图像进行单个面单色的像素亮度值处理，获取发光体的所有单个面单色像素亮度值的标准差参数值；

亮度值补偿率计算模块，用于根据图像采集设备的镜头中心和发光体的直线距离与反光棱镜的反射光程之间的光路差值，计算亮度值补偿率；

亮度补偿模块，用于根据计算得到的亮度值补偿率，对若干个侧面图像所对应的单色平均亮度值进行亮度补偿。