[发明专利]一种测量粒子加速器束流到达时间的方法

说明书

技术领域

本发明涉及加速器物理束流诊断领域，尤其涉及一种测量粒子加速器束流到达时间的方法。

背景技术

X射线自由电子激光装置作为一种常见的粒子加速器，束流到达时间的测量是其关键的技术问题之一。为了提高外种子型自由电子激光装置中由电子枪产生的电子束团与激光发生器产生的种子激光脉冲在三维实空间中的重合程度，需要精确测定电子束团到达时间，并以此时间为基准来调整激光脉冲的时序，从而实现二者在束流运动方向上(时间上)的重合，要求到达时间的测量分辨率达到百fs量级甚至更高。另外，束团纵向相位(到达时间)的变化在同步辐射光源高性能运行中也是一个不可忽视的问题，当纵向不稳定性较强时会直接影响到流强、寿命、光源点稳定性等多个束流参数，降低供光品质。

目前，常用的超高分辨率束流到达时间测量方法包括：电光采样法和射频相位腔法。其中，电光采样法利用宽带可达数十GHz的射频探头耦合到的束流信号对超短基准时钟激光脉冲强度进行调制，通过检测调制后的激光脉冲强度来获得束流到达时间信息；该方法采用的系统结构相对复杂，需要将基准激光脉冲信号引入加速器隧道，调试及优化相对比较困难。而射频相位腔法则利用腔式束流探头(工作频率通常为GHz量级)直接耦合出携带束流到达时间信息的窄带信号，通过混频器件将该窄带信号与由本振信号源产生的射频参考信号混频后输出中频信号，该中频信号的相位即反映了束流信号与参考信号之间的相对时间关系；然而，该射频相位腔法需要提供稳定的射频参考信号，但这种射频参考信号通常易受环境温度影响，而引入测量误差，从而无法准确获得束流到达时间。

发明内容

为了解决上述现有技术存在的问题，本发明旨在提供一种测量粒子加速器束流到达时间的方法，以提高测量分辨率，并简化用于测量的系统的结构。

本发明所述的一种测量粒子加速器束流到达时间的方法，其包括以下步骤：

步骤S1，提供具有用于产生电子束的电子枪和用于产生种子激光的激光发生器的自由电子激光装置，在所述电子枪的出口处安装第一腔式探头作为基准相位腔，并在所述电子束与所述种子激光的交汇处安装第二腔式探头作为测量相位腔，其中，所述第一腔式探头和第二腔式探头被设置为各自输出的TM010模共模信号之间的频率差为0～100MHz；

步骤S2，将所述第一腔式探头输出的TM010模共模信号与所述第二腔式探头输出的TM010模共模信号进行混频，并将混频后的信号进行低通滤波及放大；

步骤S3，对经过所述步骤S2获得的信号进行同步数字化采样；以及

步骤S4，对经过所述步骤S3采样的信号进行数字信号处理，以提取束流相位，并通过该束流相位计算获得束流到达时间。

在上述的测量粒子加速器束流到达时间的方法中，所述步骤S2由一射频信号处理前端实现，该射频信号处理前端包括：一用于将所述第一腔式探头输出的TM010模共模信号与所述第二腔式探头输出的TM010模共模信号进行混频的混频器件、一与所述混频器件连接并用于将混频后的信号进行低通滤波的低通滤波器以及一与所述低通滤波器连接并用于将滤波后的信号进行放大的放大器。

在上述的测量粒子加速器束流到达时间的方法中，所述低通滤波器被设置为其带宽大于所述第一腔式探头和第二腔式探头各自输出的TM010模共模信号之间的频率差。

在上述的测量粒子加速器束流到达时间的方法中，所述放大器的输出端还设置有一辐射屏蔽墙。

在上述的测量粒子加速器束流到达时间的方法中，所述步骤S3包括采用一数据采集器并通过该数据采集器接收一采样基准时钟信号，对经过所述步骤S2获得的信号进行同步数字化采样。

在上述的测量粒子加速器束流到达时间的方法中，所述步骤S4包括采用一与所述数据采集器连接的信号处理器并通过该信号处理器接收所述采样基准时钟信号，对经过所述步骤S3采样的信号进行数字信号处理，以提取束流相位，并通过该束流相位计算获得束流到达时间。

由于采用了上述的技术解决方案，本发明利用安装在不同位置处的两个腔式探头测量束流经过两探头的相位差，表征了束流到达时间；两探头可以直接在加速器隧道内进行混频并低通滤波，不需要射频相位腔法所需的参考基准时钟，解决了远距离传输射频信号导致的衰减和对室内外温差敏感引入的测量误差问题。同时，两个腔式探头输出信号的相位差固定，也解决了本振源锁相问题。另外，本发明也不需要光电采样法所需复杂的光电调整解调模块。

附图说明

图1是实现本发明的一种测量粒子加速器束流到达时间的方法的系统结构原理图。

具体实施方式