[发明专利]计算机断层成像伪影校正方法及装置

权利要求书

1.一种计算机断层成像伪影校正方法，其特征在于，包括：

接收扫描数据，并基于该扫描数据重建待校正图像及该待校正图像的参照图像；

对该参照图像的像素点赋予第一物质比例，并基于该第一物质比例获取该参照图像的第一物质基图；

对该第一物质基图及该参照图像进行投影，获取该投影操作每一投影射线对应的第一物质等效长度；

根据所述每一投影射线对应的第一物质等效长度，确定伪影校正系数；

使用该伪影校正系数对所述待校正图像进行伪影校正；

所述对该第一物质基图及该参照图像进行投影，获取该投影操作每一投影射线对应的第一物质等效长度的步骤，具体包括：

以后续反投影重建图像不产生混叠伪影为原则选择正投影的通道数和投影角度数；以及

对该第一物质基图及该参照图像以小于或等于重建图像时所用的通道数和投影角度数进行正投影操作，得到每一正投影射线沿投影方向的第一物质投影值和原始投影值。

2.根据权利要求1所述的伪影校正方法，其特征在于，基于第一视野重建待校正图像，基于第二视野重建所述参照图像，所述第二视野不小于第一视野。

3.根据权利要求1所述的伪影校正方法，其特征在于，根据该参照图像每一像素点所属的组织类型及CT值对该像素点赋予第一物质比例。

4.根据权利要求3所述的伪影校正方法，其特征在于，赋予所述像素点的第一物质比例随该像素点的CT值的增大而减少。

5.根据权利要求3所述的伪影校正方法，其特征在于，还包括：赋予该每一像素点第二物质比例。

6.根据权利要求5所述的伪影校正方法，其特征在于，当所述组织为骨组织时，第一物质为水，第二物质为磷酸钙。

7.根据权利要求1所述的伪影校正方法，其特征在于，以小于或等于所述参照图像重建时的通道数及投影角度数，对该参照图像及第一物质基图进行投影。

8.根据权利要求1所述的伪影校正方法，其特征在于，所述每一投影射线对应的第一物质等效长度，为该投影射线对第一物质基图的投影值与该射线经过的第一物质CT值的比值。

9.根据权利要求1所述的伪影校正方法，其特征在于，所述使用该伪影校正系数对待校正图像进行伪影校正包括：

根据所述参照图像的投影图像及所述校正系数获取伪影图像；

从所述待校正图像中去除伪影图像。

10.一种计算机断层成像伪影校正装置，其特征在于，包括：

接收单元，用于接收扫描数据；

重建单元，用于根据重建设定基于扫描数据重建待校正图像及该待校正图像的参照图像；

赋值单元，用于对该参照图像的像素点赋予第一物质比例，并基于该第一物质比例获取该参照图像的第一物质基图；

投影单元，用于对该第一物质基图及该参照图像进行投影，以获取该投影操作每一投影射线对应的该第一物质等效长度；

校正单元，用于根据所述每一投影射线对应的该第一物质等效长度确定伪影校正系数，并使用该伪影校正系数对待校正图像进行伪影校正；

所述投影单元具体用于：

以后续反投影重建图像不产生混叠伪影为原则选择正投影的通道数和投影角度数，对该第一物质基图及该参照图像以小于或等于重建图像时所用的通道数和投影角度数进行正投影操作，得到每一正投影射线沿投影方向的第一物质投影值和原始投影值。