[发明专利]键盘装置及其按键状态的检测方法有效

专利信息
申请号: 201610068771.3 申请日: 2016-02-01
公开(公告)号: CN106877878B 公开(公告)日: 2020-01-31
发明(设计)人: 蔡安绮;周家源 申请(专利权)人: 联阳半导体股份有限公司
主分类号: H03M11/20 分类号: H03M11/20
代理公司: 11205 北京同立钧成知识产权代理有限公司 代理人: 马雯雯;臧建明
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 键盘 装置 及其 按键 状态 检测 方法
【说明书】:

发明提供一种键盘装置及其按键状态的检测方法。此检测方法包括以下步骤:将键盘装置的按键模块的第一线驱动至第一电位,且检测对应于按键模块的每一条第二线的任一按键是否有被按压以作为第一检测结果。将第二线驱动至第一电位,且检测对应于每一条第一线的按键是否有被按压以作为第二检测结果。依序地选取其中一条第一线,并通过第二线来对所选取的第一线的每一按键的被按压状态进行扫描,从而产生粗略扫描结果。根据第一检测结果、第二检测结果与粗略扫描结果取得每一按键的被按压状态以及决定每一按键的被按压状态是否被误判。本发明可提升键盘装置的扫描速度,且可精确地判断每一个按键是否被按压。

技术领域

本发明涉及一种键盘装置,尤其涉及一种可避免按键误判情况的键盘装置及其按键状态的检测方法。

背景技术

请参照图1,图1显示已知的键盘装置100。键盘装置100中可包括按键SW1~SW4以及比较器10、比较器20。按键SW1耦接在驱动线DL1与感测线SL1之间;按键SW2耦接在驱动线DL1与感测线SL2之间;按键SW3耦接在驱动线DL2与感测线SL1之间;按键SW4耦接在驱动线DL2与感测线SL2之间。比较器10耦接到感测线SL1以接收电压信号SV1,并将电压信号SV1与参考电压Vref进行比较。同样地,比较器20耦接到感测线SL2以接收电压信号SV2,并将电压信号SV2与参考电压Vref进行比较。

在进行按键SW1~SW4的被按压状态的检测动作时,可将驱动线DL1驱动至一电压位准且将驱动线DL2驱动至另一电压位准。按键SW1及SW2可在驱动线DL1被驱动至上述电压位准时,依据其被按压的状态而分别通过感测线SL1、SL2传送出相应的电压信号SV1、电压信号SV2至比较器10、比较器20,再由比较器10、比较器20将电压信号SV1、电压信号SV2与参考电压Vref进行比较以判断出按键SW1、按键SW2的被按压状态。同样地,按键SW3及SW4可在驱动线DL2被驱动至上述电压位准时,依据其被按压的状态而通过感测线SL1、感测线SL2传送出相应的电压信号SV1、电压信号SV2至比较器10、比较器20,再由比较器10、比较器20将电压信号SV1、电压信号SV2与参考电压Vref进行比较以判断出按键SW3、按键SW4的被按压状态。

可以理解的是,当键盘装置中的按键的数量越多而导致键盘装置中的感测线的数量增加时,将使耦接在感测线以进行电压比较的比较器的数量也需越多。然而,上述这些比较器会因为制程上的偏置而产生误差,可能会对按键的被按压状态产生误判。因此,上述的每一个比较器都必须进行校正(calibration)以取得其偏差值(offset),如此方能精准地检测出相对应的按键的被按压状态。由于上述的按键状态的检测方式必须储存每一个比较器的偏差值,故会耗费较多的电路资源。

另一方面,可以只采用一个校正精准的比较器,以使此一校正精准的比较器可依序地对多条感测线中的其中一条的电压信号进行比较。然而,如此的按键状态的检测方式无法同时并行地对所有的感测线的电压信号进行比较,故检测速度较慢。

发明内容

有鉴于此,本发明提供一种键盘装置及其按键状态的检测方法,可精准地且快速地判断出按键的被按压状态。

本发明的键盘装置包括按键模块以及控制器。按键模块包括多个按键、至少一条第一线以及至少一条第二线,其中至少一条第一线与至少一条第二线耦接到此些按键以驱动此些按键或感测此些按键。控制器耦接到至少一条第一线与至少一条第二线。控制器于第一检测阶段并行驱动至少一条第一线至同一电位,且并行检测对应于各至少一条第二线的至少一个按键是否有被按压以作为第一检测结果。控制器于第一扫描阶段依序地选取至少一条第一线的其中一个,并通过至少一条第二线来对所选取的第一线的每一个按键的被按压状态进行并行扫描,从而产生粗略扫描结果。控制器于第一扫描阶段根据第一检测结果与粗略扫描结果而取得此些按键的每一个的被按压状态以及决定此些按键的每一个的被按压状态是否被误判。

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