[发明专利]电子装置及其按键状态的检测方法有效
申请号: | 201610069320.1 | 申请日: | 2016-02-01 |
公开(公告)号: | CN106872817B | 公开(公告)日: | 2020-01-31 |
发明(设计)人: | 侯庆敏;蔡安绮;黄子译 | 申请(专利权)人: | 联阳半导体股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 11205 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人: | 马雯雯;臧建明 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 装置 及其 按键 状态 检测 方法 | ||
1.一种电子装置,其特征在于,包括:
按键模块,包括多个按键、至少一条第一线以及至少一条第二线,其中所述至少一条第一线与所述至少一条第二线耦接到所述多个按键以驱动所述多个按键或感测所述多个按键;
按键控制电路,耦接到所述至少一条第一线与所述至少一条第二线,所述按键控制电路检测所述多个按键中的任一个是否被按压,若检测结果为是,所述按键控制电路对所述多个按键的每一个的被按压状态进行扫描,并据以得到粗略扫描结果;
具校正机制的转换电路,包括切换电路,其中所述切换电路耦接到第一电路以接收第一感测信号,耦接到所述按键控制电路以通过所述按键控制电路接收所述至少一条第二线上的至少一第二感测信号,且受控于切换信号而默认地选择所述第一感测信号以作为模拟信号,其中所述第一电路用以量测所述电子装置的温度或电池电量以产生所述第一感测信号,其中所述具校正机制的转换电路对所述模拟信号进行转换,以产生第一结果;以及
处理器,耦接到所述按键控制电路与所述具校正机制的转换电路,所述处理器根据所述第一结果而执行所述电子装置的温度控制功能或电量监控功能,
其中,当所述处理器根据所述粗略扫描结果而判断所述多个按键的至少一个未被按压时,所述处理器产生所述切换信号以使所述切换电路选择所述至少一第二感测信号的对应者以作为所述模拟信号,使所述具校正机制的转换电路对所述模拟信号进行转换以产生第二结果,且所述处理器根据所述第二结果重新判断所述多个按键的所述至少一个的被按压状态。
2.根据权利要求1所述的电子装置,其特征在于,于第一扫描阶段,所述按键控制电路依序地选取所述至少一条第一线的其中一个,并通过所述至少一条第二线来对所选取的所述第一线的每一个按键的被按压状态进行并行扫描,从而产生所述粗略扫描结果。
3.根据权利要求2所述的电子装置,其特征在于,于检测阶段,所述按键控制电路并行驱动所述至少一条第一线至同一电位,且并行检测对应于各所述至少一条第二线的至少一个按键是否有被按压以作为检测结果,
其中,所述按键控制电路于所述检测阶段根据所述检测结果来判断所述多个按键中的任一个是否被按压,若判断结果为是,则所述按键控制电路进入所述第一扫描阶段。
4.根据权利要求3所述的电子装置,其特征在于,所述按键控制电路包括:
至少一比较电路,耦接到所述至少一条第二线与所述处理器;以及
主控制电路,耦接到所述至少一条第一线与所述处理器,其中:
所述主控制电路于所述检测阶段并行驱动所述至少一条第一线至第一电位,所述至少一比较电路将所述至少一条第二线的电压与比较电压进行比较以产生所述检测结果;以及
所述主控制电路于所述第一扫描阶段依序地选取所述至少一条第一线的其中一个,所述主控制电路驱动所选取的所述至少一条第一线的其中该者至所述第一电位且驱动所述至少一条第一线的其余者至第二电位,所述至少一比较电路将所述至少一条第二线的电压与所述比较电压进行比较以产生所述粗略扫描结果。
5.根据权利要求2所述的电子装置,其特征在于,于所述第一扫描阶段,当所述处理器根据所述粗略扫描结果而判断所述多个按键的至少一个未被按压时,所述处理器进入第二扫描阶段并通过所述按键控制电路将对应于未被按压的所述按键的所述第一线驱动至第一电位且将所述至少一条第一线的其余者驱动至第二电位,所述处理器产生所述切换信号以使所述切换电路选择对应于未被按压的所述按键的所述第二线的所述第二感测信号以作为所述模拟信号,使所述具校正机制的转换电路对所述模拟信号进行转换以产生所述第二结果,所述处理器将所述第二结果与临界值进行比较以重新判断未被按压的所述按键的被按压状态。
6.根据权利要求1所述的电子装置,其特征在于,所述具校正机制的转换电路还包括:
模拟数字转换器,耦接到所述切换电路以接收所述模拟信号,对所述模拟信号进行模拟数字转换以产生所述第一结果或所述第二结果,其中所述模拟数字转换器具备校正机制。
7.根据权利要求1所述的电子装置,其特征在于,所述第一电路包括温度传感器或电量量测电路。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联阳半导体股份有限公司,未经联阳半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610069320.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。