[发明专利]一种辐射探测测量和成像方法及变结构PET设备

权利要求书

1.一种辐射探测测量和成像方法，其特征在于：包括以下步骤：

(1)确定待测量和成像区域的空间位置；

(2)调节至少一个探测器的角度，使得所述调节后的探测器中轴穿过所述待测量和成像区 域；

(3)进行测量或者成像，所述进行测量或者成像的探测器包括部分或全部调节后的探测器。

2.根据权利要求1所述的辐射探测测量和成像方法，其特征在于：所述步骤(2)中，所 述调节后的探测器的中轴均汇聚至所述待测量和成像区域内任意一点F处，所述F点的空间位 置为F(x_f,y_f,z_f)；

优选的，所述F点为待测量和成像区域的中心点。

3.根据权利要求1或2所述的辐射探测测量和成像方法，其特征在于：其应用于PET设 备成像，所述待测量和成像区域为感兴趣区域，所述待测量和成像区域的空间位置为感兴趣区 域在视场中的空间位置；

优选的，经由成像前诊断步骤确定感兴趣区域、所述F点在视场中的空间位置；或，在成 像过程中确定感兴趣区域、所述F点在视场中的空间位置；

优选的，经由结构成像数据或经由功能成像数据确定F点在视场中的空间位置 F(x_f,y_f,z_f)。

4.根据权利要求3所述得的辐射探测测量和成像方法，其特征在于：所述PET设备的探 测器呈环状分布，包括M组探测器环，所述每组探测器环中设置N个探测器，M，N≥1，或所 述PET设备的探测器呈板状分布，包括相对设置的两组探测器板，所述每组探测器板包括M排 N列探测器以及固定所述M排N列探测器的一平板机架，M，N≥1，则步骤(2)中：

(2-1)分别确定每个探测器旋转角度γ_m,n(α_m,n,β_m,n)，其中m的取值为1,2,3,…,M，n的取 值为1,2,3,…,N；

(2-2)驱动每一个探测器旋转角度γ_m,n(α_m,n,β_m,n)以使得每个探测器的中轴均汇聚至所述 F(x_f,y_f,z_f)处。

5.根据权利要求4所述的辐射探测测量和成像方法，其特征在于：所述步骤(2-2)中， 包括步骤(A)：首先驱动每一个探测器在其探测器环所在平面内旋转α_m,n，然后驱动探测器在 垂直于其探测器环的平面内旋转β_m,n；

或，包括步骤(B)：首先驱动每一个探测器围绕其中轴自转α_m,n度以使得探测器旋转至目 标平面，然后驱动所述探测器在所述目标平面内旋转旋转β_m,n。