[发明专利]最小温度分辨力测试装置及其测试方法有效
申请号: | 201610073037.6 | 申请日: | 2016-02-02 |
公开(公告)号: | CN105547496B | 公开(公告)日: | 2018-10-26 |
发明(设计)人: | 李文军;徐永达 | 申请(专利权)人: | 中国计量学院 |
主分类号: | G01J5/52 | 分类号: | G01J5/52 |
代理公司: | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 | 代理人: | 王佳健 |
地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 最小 温度 分辨力 测试 装置 及其 方法 | ||
本发明公开了一种最小温度分辨力测试装置及其测试方法。现有的可变温差目标发生器存在比较严重的温差调节问题,限制了温差发生器可形成的最小温差和最大温差。本发明最核心为组合式多矩形空腔结构的表观温度温差发生装置,这种结构的发生装置可以作为近似灰体辐射源,且每个单元表面的发射率不同,通过组合单元形成不同发射率分布的混合表面。通过改变发生装置制作材料、改变矩形空腔的深度与宽度之比、改变空腔水平面上腔面面积与非空腔面积占空比,可调整单元表面的发射率。在特定温度范围和光谱范围,本发明具有灰体辐射特性,不仅能解决温差调节问题,还可用作红外成像系统性能测试的靶标、材料发射率测量的参考物。
技术领域
本发明公开了一种标准装置,具体涉及一种最小温度分辨力测试装置及其测试方法。
背景技术
在对红外成像系统性能评价时,通常使用最小可分辨温差作为最主要参数,并通过面辐射源这类可变温差目标发生器组成的测试系统进行测试。但是传统的可变温差目标发生器在应用中受到温差调节的限制。由于在调节面辐射源温度时,靶标与环境、靶标与面源之间分别存在着换热,这种换热显著影响到温差调节的灵活程度和准确程度,并限制了温差发生器可形成的最小温差和最大温差。同时,靶标和黑体的组合决定了无法获得连续可调的温差,这在很大程度上限制针对红外热成像设备的测试能力,无法使得测试更完备和彻底。因此,需要一个能解决温差调节问题的最小温度分辨力测试系统。
发明内容
本发明针对现有技术的不足,提供了一种最小温度分辨力测试装置及其测试方法
为解决以上问题,本发明采用了以下技术手段:
所述的最小温度分辨力测试装置,包括表观温度温差发生装置,环境辐射过滤装置,灰体红外辐射衍射装置。
所述的表观温度温差发生装置,包括多空腔矩形灰体,热电偶,所述热电偶位于矩形灰体内部,通过从矩形灰体底部的孔洞外接电源线供电。
所述环境辐射过滤装置为反射罩。所述反射罩将表观温度温差发生装置的上表面遮盖住,反射罩的圆形孔径正对着表观温度温差发生装置。
所述灰体辐射衍射装置为光栅。所述光栅位于反射罩圆形孔径处。
用于红外成像系统性能评价的测试方法,包括以下步骤:
1.根据红外成像系统的对最小分辨力的需要,选择适当的多空腔矩形灰体。
2.对热电偶供电,将表观温度温差发生装置加热到一个特定的温度,并保持一段时间。
3.将红外成像系统的镜头安装到反射罩的圆形孔径内,保持镜头紧贴圆形孔径。
4.通过红外成像系统拍摄红外热成像照片,并将此照片导出到热成像照片处理软件中分析。
5.通过分析比对,可以得出此红外热像系统的最小温度分辨力。
本发明的有益效果在于:在特定温度范围和光谱范围,本装置具有灰体辐射特性,不仅能解决温差调节问题,还可用作红外成像系统性能测试的靶标、材料发射率测量的参考物。
附图说明
图1为本发明的装置结构图。
图2为本发明的表观温度温差发生装置结构图。
图3为本发明的表观温度温差发生装置单元内矩形腔与矩形翅结构示意图。
图中:1、表观温度温差发生装置,2、环境辐射过滤装置,3、灰体红外辐射衍射装置,4、红外成像系统,5、多空腔矩形灰体,6、热电偶(安装于灰体内部)。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步的说明。
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