[发明专利]小型化移动式固体、液体物质中放射性活度检测装置及其检测方法有效

专利信息
申请号: 201610073455.5 申请日: 2016-02-02
公开(公告)号: CN105676257B 公开(公告)日: 2018-12-04
发明(设计)人: 李百龙;张中良;蔡建明;高福;崔建国;程赢;刘聪;杨彦勇;郭佳铭;赵德云;曲红金;李秀秀;张沛 申请(专利权)人: 中国人民解放军第二军医大学
主分类号: G01T1/178 分类号: G01T1/178
代理公司: 上海元一成知识产权代理事务所(普通合伙) 31268 代理人: 赵青
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 小型化 移动式 固体 液体 物质 放射性 检测 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种小型化移动式固体、液体物质中放射性活度检测方法,其特征在于,所述的检测方法包括以下步骤:

A、将被检测物质放在样品杯中;

B、将钨合金盖的左盖和右盖旋开,将样品杯放入测量室的钨合金屏蔽罐体内,使探头位于样品杯底部,钨合金盖旋转闭合;

C、被测样品中伽马射线打到探头NaI晶体,使NaI晶体发光,光子经过光电倍增管放大后输出为电流脉冲、该电流脉冲经过测量电路处理并进行计数统计、运算出待测样品的活度,最终在显示屏上显示检测结果;

所述的步骤C中,电流脉冲经电流放大成型电路放大并成型为正极性的电压脉冲,该电压脉冲送到后级5个甄别器进行甄别比较,当电压脉冲幅度高于甄别器阈值电压时,甄别器输出负极性脉冲信号,该负极性脉冲信号送到计数器电路进行计数统计;

由于样品放射性活度和计数率成正比,单片机读取到5个通道的计数值,通过正比例运算即可计算出待测样品的活度;

5个甄别器中,一个作为总量计数器、用于测量样品中总放射性强度,另外4个甄别器构成二个单道分析器,同时对二种放射性核素活度进行分析;

所述的检测方法利用小型化移动式固体、液体物质中放射性活度检测装置进行检测,所述的检测装置包括:

机箱、固定于机箱内的测量室、设置于机箱表面的显示屏,和设置于机箱内部的测量电路;

其中:测量室和显示屏为平行设置;

显示屏与测量电路相连;

测量室包括:钨合金盖、钨合金屏蔽罐体、样品杯和探头,样品杯放置于钨合金屏蔽罐体内部,探头设置于样品杯底部;

钨合金盖分为左盖和右盖,左盖和右盖的一端为活动连接,另一端为活动旋转开口端;

探头通过电缆线与测量电路相连;

测量电路包括:高压电源、电流放大成型电路、电压甄别器、计数器电路、处理器电路、多路可调电压基准电路、按键、显示器电路。

2.根据权利要求1所述的一种小型化移动式固体、液体物质中放射性活度检测方法,其特征在于,所述的探头包括:NaI晶体、光电倍增管、电磁屏蔽罩、探头外罩和探头安装环,光电倍增管位于NaI晶体的下方,NaI晶体和光电倍增管的外部设电磁屏蔽罩,电磁屏蔽罩的外部为探头外罩,探头外罩上设有探头安装环。

3.根据权利要求2所述的一种小型化移动式固体、液体物质中放射性活度检测方法,其特征在于,所述的NaI晶体由上方圆柱体和下方倒置的圆台组合而成,其中圆台的大圆底面与圆柱体契合。

4.根据权利要求1、2或3所述的一种小型化移动式固体、液体物质中放射性活度检测方法,其特征在于,所述的样品杯包括:相配合的杯体、杯盖以及设置于杯盖上的防水密封圈。

5.根据权利要求1、2或3所述的一种小型化移动式固体、液体物质中放射性活度检测方法,其特征在于,所述的钨合金盖的左盖和右盖的活动连接为滑动轴承。

6.根据权利要求1、2或3所述的一种小型化移动式固体、液体物质中放射性活度检测方法,其特征在于,所述的钨合金盖的外侧设有盖挡销。

7.根据权利要求1、2或3所述的一种小型化移动式固体、液体物质中放射性活度检测方法,其特征在于,所述的钨合金盖的活动旋转开口端的顶部设有开盖手柄。

8.根据权利要求1、2或3所述的一种小型化移动式固体、液体物质中放射性活度检测方法,其特征在于,所述的机箱外部设有帮运拧手。

9.根据权利要求3所述的一种小型化移动式固体、液体物质中放射性活度检测方法,其特征在于,所述的NaI晶体的顶部直径为40-50mm,底部直径为25-30mm,总长度为55-65mm。

10.根据权利要求9所述的一种小型化移动式固体、液体物质中放射性活度检测方法,其特征在于,所述的NaI晶体的顶部直径为44mm,底部直径为27mm,总长度为59mm。

11.根据权利要求1所述的一种小型化移动式固体、液体物质中放射性活度的检测方法,其特征在于,所述的步骤C中采用单道稳谱处理:

在5个甄别器中选择3个甄别器,分别设置阈值电压为Va、Vb、Vm,测量样品,并记录3个甄别器输出计数Na、Nm、Nb,左半峰面积为:Nam=Na-Nm;右半峰面积为:Nmb=Nm-Nb;

测量系统、环境气候条件稳定时,左半峰面积与右半峰面积比值K0=Nam0/Nmb0为一常数,并被记录在微处理器中,其中,Nam0为测量系统、环境气候条件稳定时左半峰面积,Nmb0为测量系统、环境气候条件稳定时右半峰面积;

在执行稳谱操作时,先测量样品,计算K=Nam/Nmb,当K>K0,表示峰位偏低,微处理器升高高压电源电压,反之则降低高压电源电压;

微处理器自动重复若干次稳谱操作后,即可将能谱峰位稳定到设定值允许范围之内。

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