[发明专利]批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统及方法在审

专利信息
申请号: 201610075620.0 申请日: 2016-02-03
公开(公告)号: CN105608395A 公开(公告)日: 2016-05-25
发明(设计)人: 吴秋彬;徐晓东;李楠 申请(专利权)人: 广州嘉磊元新信息科技有限公司
主分类号: G06F21/80 分类号: G06F21/80
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510075 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 批量 硬盘数据 销毁 隔离 验证 数据 残留 系统 方法
【权利要求书】:

1.批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,其特征在于:包含若干个用于集中组装多个硬盘的硬盘柜;所有硬盘柜与用于清除数据的服务器组件通讯连接;所述服务器组件包含显示器和与显示器连接的电脑主机;

所述电脑主机的电脑主板包含用于插接阵列卡的PCIE接口的PCIE插槽;所述阵列卡还包含用于和硬盘柜通讯连接的通讯接口,所述硬盘柜上设置用于和每一个硬盘通讯连接的硬盘连接口,所述硬盘柜还包含用于和所述阵列卡通过硬盘柜连接线连接的硬盘集中通讯接口。

2.如权利要求1所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,其特征在于:所述硬盘柜上设置有用于限位和导向硬盘的硬盘插槽;所述硬盘柜上的硬盘连接口为SAS和/或SATA接口。

3.如权利要求2所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,其特征在于:所述硬盘连接口为SAS接口;对应的,所述阵列卡为SAS阵列卡。

4.如权利要求2所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,其特征在于:所述阵列卡为16口SAS阵列卡;所述每一个硬盘柜插接组装15个硬盘;所述电脑主板上设置有至少三个PCIE插槽;所述16口SAS阵列卡为16口SAS5E扩展卡。

5.如权利要求1所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,其特征在于:所述硬盘柜上组装有控制器和电源;所述控制器与所述阵列卡通讯连接;所述控制器采用PERCRAID控制器。

6.如权利要求5所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,其特征在于:每个硬盘柜包含两个控制器和两个电源;每个控制器均包含输入接口和输出接口;输出接口用于和所有硬盘通讯连接,输入接口与所述阵列卡通讯连接。

7.如权利要求1~6任一所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,其特征在于:还包含用于组装硬盘柜、电脑主机的集中柜;集中柜为自上而下设置的多层结构;每层均包含固定框架;所述电脑主机、硬盘柜固定安装在集中柜上;所述电脑主机通过VGA或HDMI接口与显示器连接,所述电脑主机还连接有键盘鼠标;所述集中柜和硬盘柜内还设置有用于主动散热的风扇。

8.批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的方法,采用如权利要求1~7任一所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统来同时组装多个硬盘;所述方法包含如下步骤:

(1)启动的步骤;组装好系统后,在服务器上初始化整个系统;

(2)搜索查找硬盘;

(3)选择待清除硬盘;通过多个相同的线程来执行对每一个硬盘的清理过程;所述每个线程的清理过程如下:

S1:开始清除硬盘;

S2:获取硬盘容量和硬盘逻辑地址范围;

S3:从逻辑地址0开始到结束地址开始每个扇区写入一遍16进制0X00再写入一遍16进制0XFF;

S4:判断写入时间是否大于30毫秒;如果大于30毫秒则把该扇区的逻辑地址加入硬盘的G表,然后执行如下步骤;如果不大于30毫秒则直接执行如下步骤;

S5:继续写入同一个硬盘的下一个扇区;

S6:所有写入扇区清除完毕。

9.如权利要求8所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的方法,其特征在于:所述步骤S6之后还包含验证数据残留的过程;所述验证数据残留的过程包含如下步骤:

S100:从逻辑地址0开始到结束地址开始每个扇区开始读取,验证是否全部是16进制0XFF;如果全部是16进制0XFF则验证无数据残留且清除完毕;如果存在不是16进制0XFF的字节则再对该扇区写入一次0XFF后执行如下步骤;

S200:再次读取该扇区,判断该扇区是否全部是16进制0XFF,如果全部是16进制0XFF则验证无数据残留且清除完毕;

如果有存在不是16进制0XFF的字节则提示硬盘存在故障,且清除完毕。

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