[发明专利]确定投影角精度和投影角的方法和计算机断层扫描设备

说明书

本发明公开了一种确定投影角精度的方法、确定投影角的方法和计算机断层扫描设备。根据本发明的第一方面，确定投影角精度的方法包括：计算一扫描对象在一X射线管位于一投影角时随各通道的理论投影；在所述X射线管位于所述投影角时扫描所述扫描对象；测量所述扫描对象在所述X射线管位于所述投影角时随各通道的投影；比较所述理论投影与所述测量到的投影。本发明的确定投影角精度的方法、确定投影角的方法和计算机断层扫描设备能比较扫描对象的理论投影和测量投影，从而确定投影角精度乃至最佳投影角。

技术领域

本发明涉及计算机断层扫描，特别是投影角。

背景技术

在CT系统中，投影角的精度对于图像重建非常重要。目前，该精度是由设计保证的。通过检查机械精准度，投影角视为精确的。

发明内容

有鉴于此，本发明提出了一种确定投影角精度的方法、确定投影角的方法和计算机断层扫描设备。

根据本发明的第一方面，提供一种确定投影角精度的方法，包括：计算一扫描对象在一X射线管位于一投影角时随各通道的理论投影；在所述X射线管位于所述投影角时扫描所述扫描对象；测量所述扫描对象在所述X射线管位于所述投影角时随各通道的投影；比较所述理论投影与所述测量到的投影。

在一实施例中，所述扫描对象是一模体，其具有一壳体和一内置物，所述壳体由聚甲基丙烯酸甲酯制成，所述内置物是水，穿过所述模体的任意X射线的理论投影为S(i)＝μ₁·l₁(i)+(μ₂-μ₁)·l₂(i)，其中：

μ₁和μ₂分别是水和聚甲基丙烯酸甲酯的衰减系数；

i是一个投影中不同探测器通道的计数；

l₁(i)和l₂(i)分别为所述任意X射线穿过所述内置物和壳体的弦长。

在一实施例中，

其中，r₁和r₂分别为所述内置物和壳体的半径，d为所述模体的圆心到所述任意X射线的距离。

根据本发明的第二方面，提供一种确定投影角的方法，包括：计算一扫描对象在一X射线管位于所述投影角时随各通道的理论投影；在所述X射线管位于所述投影角时扫描所述扫描对象；测量所述扫描对象在所述X射线管位于所述投影角时随各通道的投影；计算所述投影角，以使所述测量到的投影与所述理论投影匹配。

在一实施例中，所述扫描对象是一模体，其具有一壳体和一内置物，所述壳体由聚甲基丙烯酸甲酯制成，所述内置物是水，穿过所述模体的任意X射线的理论投影为S(i)＝μ₁·l₁(i)+(μ₂-μ₁)·l₂(i)，其中：

μ₁和μ₂分别是水和聚甲基丙烯酸甲酯的衰减系数；

i是一个投影中不同探测器通道的计数；

l₁(i)和l₂(i)分别为所述任意X射线穿过所述内置物和壳体的弦长。

在一实施例中，

其中，r₁和r₂分别为所述内置物和壳体的半径，d为所述模体的圆心到所述任意X射线的距离；