[发明专利]立体结构功能成像系统有效
申请号: | 201610081461.5 | 申请日: | 2016-02-05 |
公开(公告)号: | CN105748040B | 公开(公告)日: | 2018-08-28 |
发明(设计)人: | 廖洪恩;范应威 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 立体 结构 功能 成像 系统 | ||
1.一种立体结构功能成像系统,其特征在于,包括:
频域光相干断层成像子系统,所述频域光相干断层子系统采用低相干光作为光源,并将所述光源通过偏振控制器后输入到耦合器,通过所述耦合器分光到参考臂和样品臂后返回到所述耦合器以形成相干光场,并采用光谱仪和CCD采集所述相干光场并在外部主机中存储和显示;
荧光成像及光谱分析子系统,所述荧光成像及光谱分析子系统具有多个可选光源,对所述多个可选光源的光路进行调节,得到预设功率的光源,并将所述预设功率的光源耦合到所述频域光相干断层成像子系统的样品光路中;以及
前端扫描结构子系统,所述前端扫描结构子系统用于将所述荧光成像及光谱分析子系统的光源和所述频域光相干断层成像子系统的样品光耦合到同一光路中,使用二维扫描振镜对出射光扫描以形成二维结构的点阵图像,并根据所述二维结构的点阵图像构成包含表面荧光光谱信号和结构断层立体图像;
其中,所述荧光成像及光谱分析子系统具有第一至第四光源接口,所述第一至第四光源接口对应连接不同波长的第一至第四荧光激发光源,所述第一至第四荧光激发光源通过光纤与所述前端扫描结构子系统相连,其中,所述前端扫描结构子系统包括第一滤波器、第二滤波器、功率衰减器和荧光激发光接收单元,其中,所述第一滤波器与所述荧光激发光接收单元相连,用于高通所述荧光激发光源的光信号,高反所述频域光相干断层成像子系统的样品反射光。
2.根据权利要求1所述的立体结构功能成像系统,其特征在于,所述立体图像的大小由显微镜的放大倍率决定,所述立体图像的表面图像空间分辨率由所述显微镜的放大倍率和光斑尺寸决定,所述立体图像的表面影像纵向分辨率由所述频域光相干断层成像子系统的光源相干长度决定。
3.根据权利要求1所述的立体结构功能成像系统,其特征在于,所述荧光成像及光谱分析子系统包括光电倍增管探测器和成像光谱仪,其中,
所述成像光谱仪用于将荧光信号通过光栅进行分光,并将分光后的荧光信号通过所述光电倍增管探测器传输到外部主机存储和显示。
4.根据权利要求1所述的立体结构功能成像系统,其特征在于,所述荧光激发光接收单元由光谱仪和光电倍增管探测器构成。
5.根据权利要求1所述的立体结构功能成像系统,其特征在于,所述样品光经过光纤连接后直接到达所述前端扫描结构子系统,通过所述第二滤波器和所述第一滤波器之后连接到振镜后经过扫描物镜到达样品,其中,所述第一滤波器高反所述频域光相干断层成像子系统的样品光,高反所述荧光成像及光谱分析子系统的激发光,所述第二滤波器高通所述频域光相干断层成像子系统的光源,高反所述荧光成像及光谱分析子系统的光源光。
6.根据权利要求1所述的立体结构功能成像系统,其特征在于,所述频域光相干断层子系统的光源为带宽光源,所述带宽光源的中心波长为1310nm,所述带宽光源的带宽为60nm。
7.根据权利要求1所述的立体结构功能成像系统,其特征在于,所述耦合器的分光比为50:50,所述耦合器将所述光源的信号分为参考光和样品光。
8.根据权利要求5所述的立体结构功能成像系统,其特征在于,所述前端扫描结构子系统由单维或者二维振镜系统构成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610081461.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:神经内科触觉感知诊断装置
- 下一篇:一种多功能胃肠外科检查治疗装置