[发明专利]一种光热弱吸收测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 201610081864.X 申请日: 2016-02-05
公开(公告)号: CN105717127A 公开(公告)日: 2016-06-29
发明(设计)人: 王凤蕊;蒋晓东;刘红婕;周晓燕;李青芝;石兆华;黄进;耿锋;叶鑫;孙来喜 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 吴开磊
地址: 621900 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 光热 吸收 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种光热弱吸收测试装置,其特征在于,包括:第一光源、第二光源、微调平台及探测器,待测样品放置于所述微调平台上,所述待测样品为中心轴对称结构,所述待测样品的折射率呈轴对称分布;

所述第一光源发出的泵浦光经过所述待测样品的中心轴且聚焦到所述待测样品的预设待测点,所述第二光源发出的探测光也经过所述待测样品的中心轴且聚焦到所述预设待测点,所述探测光的聚焦光斑面积大于所述泵浦光的聚焦光斑面积,透过所述待测样品的探测光入射至所述探测器;

所述微调平台用于调节所述待测样品的位置,以使得所述泵浦光与所述探测光均聚焦到所述预设待测点;

所述探测器用于根据所接收到的探测光得到所述待测样品对所述泵浦光的吸收。

2.根据权利要求1所述的光热弱吸收测试装置,其特征在于,所述第一光源发出的泵浦光与所述待测样品的中心轴成第一预设夹角入射,所述第二光源发出的探测光与所述待测样品的中心轴成第二预设夹角入射,所述第一预设夹角的大小与所述第二预设夹角的大小均大于等于85度小于等于90度。

3.根据权利要求1或2所述的光热弱吸收测试装置,其特征在于,还包括:对准监测模块,所述对准监测模块用于接收透过所述待测样品的泵浦光以辅助校准入射到所述待测样品上的泵浦光的方向,所述第一光源发出的泵浦光入射到所述待测样品,透过所述待测样品的泵浦光入射到所述对准监测模块。

4.根据权利要求3所述的光热弱吸收测试装置,其特征在于,所述第一光源与所述待测样品之间设置有第一扩束整形模块,用于将所述泵浦光聚焦到所述待测样品的预设待测点,所述第二光源与所述待测样品之间设置有第二扩束整形模块,用于将所述探测光聚焦到所述待测样品的预设待测点;所述第一光源发出的泵浦光经过所述第一扩束整形模块的整形会聚处理后聚焦到所述待测样品的预设待测点;所述第二光源发出的探测光经过所述第二扩束整形模块的整形会聚处理后聚焦到所述待测样品的预设待测点。

5.根据权利要求4所述的光热弱吸收测试装置,其特征在于,还包括反射镜,所述反射镜设置于所述第二扩束整形模块与所述待测样品之间,所述反射镜用于将经过第二扩束整形模块整形会聚后的探测光反射到所述待测样品的预设待测点上聚焦。

6.根据权利要求5所述的光热弱吸收测试装置,其特征在于,所述探测器包括滤波模块、光电转换模块及信号分析模块,所述滤波模块、所述光电转换模块及所述信号分析模块依次耦合,透过所述待测样品的探测光经过所述滤波模块的滤波处理后进入所述光电转换模块,经所述光电转换模块转换为电信号并发送到所述信号分析模块。

7.一种光热弱吸收测试方法,应用于如权利要求1-6中任一项所述的光热弱吸收测试装置,其特征在于,所述方法包括:

通过所述微调平台调节所述待测样品的位置,以使所述第一光源发出的泵浦光经过所述待测样品的中心轴且聚焦到所述待测样品的预设待测点,使所述第二光源发出的探测光也经过所述待测样品的中心轴且聚焦到所述预设待测点,其中,所述探测光的聚焦光斑面积大于所述泵浦光的聚焦光斑面积;

所述探测器接收并分析透过所述待测样品的探测光,以得到所述待测样品对所述泵浦光的吸收。

8.根据权利要求7所述的光热弱吸收测试方法,其特征在于,所述方法还包括:

按预设规则控制所述微调平台以调节所述待测样品的位置,依次使得所述泵浦光及所述探测光均聚焦到所述待测样品的多个预设待测点上;

所述探测器依次接收并分析透过所述待测样品的探测光,以得到每一个所述预设待测点处所述待测样品对所述泵浦光的吸收。

9.根据权利要求8所述的光热弱吸收测试方法,其特征在于,所述多个预设待测点分布于所述待测样品的一个预设截面上,其中,所述预设截面为所述待测样品的与所述中心轴垂直的截面。

10.根据权利要求8所述的光热弱吸收测试方法,其特征在于,所述多个预设待测点分布于所述待测样品的间隔预设距离的两个预设截面之间,其中,所述预设截面为所述待测样品的与所述中心轴垂直的截面。

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