[发明专利]一种调整OLED显示器像素的方法及装置

说明书

本申请公开了一种调整OLED显示器像素的方法及装置，该方法包括：检测所述OLED显示器每个像素点的电流值；根据所述检测到的电流值，确定所述OLED显示器中的暗点像素的显示位置；从像素图案集中确定所述暗点像素的相关像素图案，其中，所述像素图案集中每一个像素图案的显示位置与所述暗点像素的显示位置之间的距离满足预定距离；将构成所述相关像素图案的所述OLED显示器中的至少一个相关像素的显示灰度调高，以补偿所述暗点像素的亮度。

本申请是2013年11月08日提出的发明名称为“一种调整OLED显示器像素的方法及装置”的中国发明专利申请201310553505.6的分案申请。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别涉及一种调整OLED显示器像素的方法及装置。

背景技术

目前，由有机材料制备的OLED（Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管）显示器因自发光显示的响应速度快、视角宽，另可以被卷曲、折叠、或者作为可穿戴计算机的一部分，因此在显示效果好的便携产品和军事等特殊领域有非常广泛的应用。

OLED的发光原理与普通无机发光二极管（LED）器件发光原理类似，即在两个电极之间沉积非常薄的有机材料，对该有机发光材料通以直流电使其发光。OLED显示器可以从技术路线、发光方向上分为两类：PMOLED（Passive matrix Organic Light-EmittingDiode，无源矩阵有机发光二极体面板）OLED显示器和AMOLED（Active Matrix OrganicLight-Emitting Diode，有源矩阵有机发光二极体面板）OLED显示器两种，两者的差别在于像素电路的驱动方式， 但是，无论哪种类型的OLED显示器，在显示时都至少形成红色、蓝色和绿色三个子像素。

OLED显示器（特别是大尺寸OLED TV显示器），因量产设备、材料、量产工艺等不成熟的原因，良率较低，经过全屏点亮、存储、高温、高湿以及高温高湿等一系列老化工艺之后，许多显示缺陷都将暴露出来，例如上下串、亮点和暗点等缺陷。上下串、亮点和暗点等缺陷可能是因为有机功能层混入异物如particle（中文解释：微粒）引起的。通常情况下，OLED行业一般采用不同的激光修复方法消除或修复部分缺陷，从而提高OLED显示器的制程良率。即在异物部分或其周围照射激光，切断有异物引起的漏电流，消除该像素的显示缺陷。但是，修复之后，在OLED显示器上会留下许多不工作的黑点或暗点，暗点越多，全屏点亮时的缺陷越明显，黑点或暗点多少将直接影响最终OLED显示器的显示品质。

例如，OLED显示器中若三个子像素有一个为亮点或暗点时，不仅会引起全屏点亮（即OLED显示器上所有的像素进入工作）时的一个明显的显示缺陷，而且在合成白光时，该子像素区域将有明显的颜色偏差，从而使得OLED显示器的实际显示效果变差。若OLED显示器内的亮点或暗点太多的话，将直接影响OLED显示器的显示品质。

现有技术中并没有关于“如何减弱/或降低激光修复后的暗点显示缺陷”的技术方案。

因此，现有技术的技术问题是：现有技术中不能够减弱/或降低激光修复后的暗点显示缺陷。

发明内容

本发明提供一种调整OLED显示器像素的方法及装置，用以解决现有技术中存在的不能够减弱/或降低激光修复后的暗点显示缺陷的技术问题。

一方面，本发明通过本申请的一个实施例，提供如下技术方案：

一种调整OLED显示器像素的方法，包括：检测所述OLED显示器每个像素点的电流值；根据所述检测到的电流值，确定所述OLED显示器中的暗点像素的显示位置；从像素图案集中确定所述暗点像素的相关像素图案，其中，所述像素图案集中每一个像素图案的显示位置与所述暗点像素的显示位置之间的距离满足预定距离；将构成所述相关像素图案的所述OLED显示器中的至少一个相关像素的显示灰度调高，以补偿所述暗点像素的灰度。