[发明专利]处理器芯片的采样电压调节方法、装置和处理器芯片

说明书

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种处理器芯片的采样电压调节方法、装置和处理器芯片。

背景技术

处理器芯片的采样电压，是指处理器芯片采样模块的采样电压(即输入电压)。目前的技术中，处理器芯片的采样模块是用处理器芯片的电源作为参考电源，如图1所示，电源芯片为处理器芯片供电，处理器芯片采样模块的参考电源便是电源芯片，因此，处理器芯片的采样电压便是电源芯片的供电电压，是一个固定的电压值。即与模数转换器接口相连接的模数转换器采样通道的参考电源(包括高电平VrefH和低电平VrefL)为电源芯片，假设电源芯片的供电电压为3.3V，则VerfH为3.3V，VrefL为0V，(处理器芯片以DSP芯片TMS320F28377为例)采样精度为12位，分辨率为2¹²＝4096，当采样信号的电压Vin的最大值比电源芯片的供电电压小很多时，比如采样信号的电压Vin的变化范围为(0～1)V时，根据公式：寄存器值＝[Vin/(VrefH-VrefL)]*2¹²，寄存器里面对应的数值范围为0-1241，数值范围较小，从而采样精度比较低。

也就是说，目前的技术中，当采样信号的电压最大值比电源芯片的供电电压小很多时，采样信号在0到最大值之间变化时，寄存器里面对应的数值范围比较小，导致采样精度也相对比较低。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种处理器芯片的采样电压调节方法、装置和处理器芯片，能够根据采样信号的采样电压相应地调整模数转换器采样通道的参考电源的大小，避免当采样信号的电压最大值比电源芯片的供电电压小很多时造成的采样精度相对比较低的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种处理器芯片的采样电压调节方法，所述处理器芯片包括模数转换器接口、数模转换器接口和与所述数模转换器接口相连接的模数转换器采样通道，所述方法包括：

通过所述模数转换器接口获取采样信号；

检测所述采样信号的采样电压，得到采样电压值；

计算所述采样电压值与预设倍数的乘积，得到预参考电压值，所述预设倍数大于或等于1；

若所述预参考电压值未达到所述处理器芯片的供电电压，确定所述预参考电压值为参考电压值，否则，确定所述处理器芯片的供电电压为所述参考电压值；

通过所述数模转换器接口向所述模数转换器采样通道输出电压值为所述参考电压值的模拟电压。

优选的，上述所述的处理器芯片的采样电压调节方法，所述模数转换器采样通道的高电平为所述模拟电压，所述模数转换器采样通道的低电平为0伏。

优选的，上述任一个所述的处理器芯片的采样电压调节方法，所述预设倍数等于2。

一种处理器芯片的采样电压调节装置，所述处理器芯片包括模数转换器接口、数模转换器接口和与所述数模转换器接口相连接的模数转换器采样通道，所述装置包括：

获取模块，用于通过所述模数转换器接口获取采样信号；

检测模块，用于检测所述采样信号的采样电压，得到采样电压值；

计算模块，用于计算所述采样电压值与预设倍数的乘积，得到预参考电压值，所述预设倍数大于或等于1；

确定模块，用于若所述预参考电压值未达到所述处理器芯片的供电电压，确定所述预参考电压值为参考电压值，否则，确定所述处理器芯片的供电电压为所述参考电压值；

供电模块，用于通过所述数模转换器接口向所述模数转换器采样通道输出电压值为所述参考电压值的模拟电压。

优选的，上述所述的处理器芯片的采样电压调节装置，所述模数转换器采样通道的高电平为所述模拟电压，所述模数转换器采样通道的低电平为0伏。

优选的，上述任一个所述的处理器芯片的采样电压调节装置，所述预设倍数等于2。

一种处理器芯片，包括：

模数转换器接口；数模转换器接口；与所述数模转换器接口相连接的模数转换器采样通道；以及与所述模数转换器接口、所述数模转换器接口、所述模数转换器采样通道分别相连接的控制单元；