[发明专利]一种双脚双色二极管弯折成型时极性识别方法有效
申请号: | 201610086512.3 | 申请日: | 2016-02-16 |
公开(公告)号: | CN105548858B | 公开(公告)日: | 2018-06-19 |
发明(设计)人: | 杜思元;顾萍萍;汪扬;杜春荣 | 申请(专利权)人: | 太仓市同维电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/04 |
代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人: | 杨文录 |
地址: | 215400 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 探针 探孔 引脚 双色二极管 双脚 二极管 测试夹具 极性识别 弯折成型 测试仪 长脚 短脚 伸入 反馈 空缺位置 探针连接 物料类型 信号判断 不良品 长短脚 成型机 准确率 触碰 导通 | ||
本发明涉及一种双脚双色二极管弯折成型时极性识别方法,包括以下方法:识别物料类型,确认属于双脚双色二极管,其长短脚需要在2.5mm以上;准备测试仪,测试仪上的测试夹具上设有探孔,探针连接至PLC;将二极管的引脚插入到测试夹具内,使用与PLC相连接的探针伸入探孔,与出现在相应探孔内的引脚接触,其中一个探针对应短脚的空缺位置,不与短脚触碰,探针根据是否接触到二极管的引脚,反馈回PLC不同的信号;PLC根据探针反馈会的信号判断长短引脚的位置,设定长脚在左,左侧的探针伸入探孔则与长脚导通,PLC的X1有信号等特征。本发明的作用是:本发明识别极性的准确率极高,避免了成型机无法识别极性而产生不良品的情况。
技术领域
本发明涉及双脚双色二极管弯折成型工艺,尤其涉及一种双脚双色二极管弯折成型时极性识别方法。
背景技术
目前,双脚双色二极管在电子产品制造领域使用越来越多,颜色相近的也越来越多,在类似红橙双色双脚二极管,在使用机械折弯成型时,经常发现,普通LED成型机测试仪无法测试,很多工厂因为无法成型采取手工作业的方式折弯成型,误判和人为折弯时的错误会导致折弯方向相反,在插件工位安装后颜色会相反,不良品的流出,会造成批量返工事件的发生,存在很大的质量隐患和效率浪费。因此有必要找到一种双脚双色二极管在弯折成型识别出极性的方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种双脚双色二极管弯折成型时极性识别方法,解决现有技术中在双脚双色二极管弯折成型无法准确、快速的识别出引脚极性的问题。
为解决上述问题,本发明所采取的技术方案是:
一种双脚双色二极管弯折成型时极性识别方法,包括以下步骤:
识别物料类型,确认属于双脚双色二极管,其长短脚需要在2.5mm以上;
准备测试仪,测试仪上的测试夹具上设有探孔,探针连接至PLC;
将二极管的引脚插入到测试夹具内,使用与PLC相连接的探针伸入探孔,与出现在相应探孔内的引脚接触,其中一个探针对应短脚的空缺位置,不与短脚触碰,探针根据是否接触到二极管的引脚,反馈回PLC不同的信号;
PLC根据探针反馈回的信号判断长短引脚的位置,设定长脚在左,左侧的探针伸入探孔则与长脚导通,右侧的探针则只有一个探针和短引脚导通,PLC根据反馈回的是否导通信号,输出判断信号给成型机电路,识别出二极管引脚极性。
进一步的,所述测试夹具包括主体、A探针、B探针、C探针和D探针,所述主体的侧面设有孔径均为2.5mm的第一探孔、第二探孔、第三探孔和第四探孔,所述第一探孔和第三探孔竖向排列且竖直距离为13mm,所述第二探孔和第四探孔竖向排列且竖直距离为13mm,所述第一探孔和第二探孔的水平距离、第三探孔和第四探孔的水平距离均为5.5mm,所述主体的顶面设有供二极管双引脚插入的孔,该孔其中一个竖直向下依次连通第一探孔和第三探孔,另一个竖直向下依次连通第二探孔和第四探孔;所述A探针、B探针、C探针和D探针可分别插入第一探孔、第二探孔、第三探孔和第四探孔。
采用上述技术方案所产生的有益效果在于:本发明识别极性的准确率极高,避免了成型机无法识别极性而产生不良品的情况。
附图说明
图1是本发明一种双脚双色二极管弯折成型时极性识别方法的测试状态示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
图1示出了本发明一种双脚双色二极管弯折成型时极性识别方法的一个实施例:一种双脚双色二极管弯折成型时极性识别方法,包括以下步骤:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于太仓市同维电子有限公司,未经太仓市同维电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610086512.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于环境测试的测试设备及方法
- 下一篇:一种局部放电检测系统和方法