[发明专利]一种射频通道间时延差测量装置及测量方法在审

专利信息
申请号: 201610087079.5 申请日: 2016-02-16
公开(公告)号: CN105721077A 公开(公告)日: 2016-06-29
发明(设计)人: 王伟;李宏斌 申请(专利权)人: 武汉滨湖电子有限责任公司
主分类号: H04B17/364 分类号: H04B17/364
代理公司: 武汉帅丞知识产权代理有限公司 42220 代理人: 朱必武
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 射频 通道 间时延差 测量 装置 测量方法
【权利要求书】:

1.一种射频通道间时延差测量装置,包含被测通道、混频器、LPF、ADC、FPGA顺序连接,其特征在于:所述的信号源产生的LFM信号被送入被测通道,信号源产生的LFM本振信号被送入混频器本振输入端;LFM信号经被测通道后与LFM本振信号混频至中频,从而将被测通道时延从时间转换成相应频率点,再经过LPF滤波、ADC采样和FPGA进行傅里叶变换解出信号频率并计算出通道时延。

2.如权利要求1所述的射频通道间时延差测量装置,其特征在于:所述的LFM本振信号与LFM信号调频斜率相同,且LFM本振信号的时间长度完全覆盖被测通道时延范围。

3.如权利要求1或2所述的射频通道间时延差测量装置,其特征在于:在测量不同通道间的时延差时,采用同一套测试设备。

4.一种射频通道间时延差测量方法,其特征在于:信号源产生LFM信号和LFM本振信号,其中LFM本振信号与LFM信号调频斜率相同,且LFM本振信号的时间长度完全覆盖被测通道时延范围;

LFM信号被送入被测通道,LFM本振信号被送入混频器本振输入端;

LFM信号经被测通道后与LFM本振信号混频至中频信号;

中频信号经过滤波、采样和傅里叶变换解出信号频率并计算出通道时延。

5.如权利要求4所述的射频通道间时延差测量方法,其特征在于:使用去斜的处理方法将对射频通道时延的测量转换成对频率的测量。

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