[发明专利]一种自动测量嵌入式存储器最大工作频率的系统及方法

权利要求书

1.一种自动测量嵌入式存储器最大工作频率的系统，包括一个外设的测试机台（1）和若干个置于芯片上的嵌入式存储器（7），其特征在于：还包括同样位于所述芯片上的锁相环（2）、加法器（3）、状态机（4）、参考数据产生器（5）和数据比较器（6）；所述测试机台（1）分别与所述状态机（4）和所述锁相环（2）连接，所述状态机（4）分别连接所述加法器（3）、所述数据比较器（6）和所述参考数据产生器（5），所述状态机（4）还通过输入总线分别与每个所述嵌入式存储器（7）连接，所述加法器（3）分别与所述状态机（4）和所述锁相环（2）连接，所述锁相环（2）与所述状态机连接，且还与每个所述嵌入式存储器（7）连接，每个所述嵌入式存储器（7）均通过输出总线与所述数据比较器（6）连接，所述参考数据产生器（5）与所述数据比较器（6）连接，所述数据比较器（6）与所述测试机台（1）连接；

所述状态机（4）的功能为接收所述测试机台（1）送入的时钟信号与开始信号以及比较结果信号；产生“进位使能”信号控制所述加法器（3）；产生包括片选信号，时钟信号，写使能信号，读使能信号，地址输入总线，数据输入总线在内的“存储器数据输入与控制信号”，控制所述嵌入式存储器（7）的写与读操作；产生参考数据使能信号，控制所述参考数据产生器（5）；

所述锁相环（2）的功能为接收所述测试机台（1）送入的参考时钟和所述加法器（3）产生的频率调节所需的可选择位，调节“锁相环时钟输出”，同时将该“锁相环时钟输出”送入到每个所述嵌入式存储器（7）与所述状态机（4）；

所述加法器（3）的功能为产生“锁相环时钟输出”频率调节所需的可选择位，控制所述锁相环（2）的输出时钟频率；

所述参考数据产生器（5）的功能为接收所述状态机（4）送入的“参考数据使能”信号，产生用于所述数据比较器（6）的参考数据；

所述数据比较器（6）的功能为接收所述状态机（4）送入的“数据比较使能”信号，接收所述参考数据产生器（5）送入的参考数据，接收所述嵌入式存储器（7）读出的存储阵列数据，将存储阵列数据与参考数据作比较，送出“数据比较结果”信号到所述测试机台（1）与所述状态机（4）。

2.根据权利要求1所述的自动测量嵌入式存储器最大工作频率的系统，其特征在于：所述加法器（3）可替换为减法器。

3.一种如采用权利要求1或2中任意一项所述的系统的自动测量嵌入式存储器最大工作频率的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1）所述测试机台（1）向所述状态机（4）发送开始信号和时钟信号，并同时向所述锁相环（2）发送参考时钟信号；

步骤2）所述状态机（4）产生进位使能信号，并发送给所述加法器（3）或减法器，控制所述加法器（3）或减法器产生可选择位；

步骤3）所述加法器（3）或减法器将产生的可选择位发送给所述锁相环（2），进而调节所述锁相环（2）的输出时钟频率；

步骤4）所述锁相环（2）将设定好的输出时钟频率同时发送到所述状态机（4）和每个所述嵌入式存储器（7）；

步骤5）所述状态机（4）产生存储器数据输入与控制信号，并发送给每个所述嵌入式存储器（7），对所述嵌入式存储器（7）进行写操作和读操作；同时所述状态机（4）产生参考数据使能信号，并发送给所述参考数据产生器（5），使所述参考数据产生器（5）产生参考数据；

步骤6）每个所述嵌入式存储器（7）读出的存储阵列数据发送给所述数据比较器（6）；同时，所述参考数据产生器（5）将产生的参考数据发送给所述数据比较器（6）；

步骤7）所述状态机（4）产生数据比较使能信号，并发送给所述数据比较器（6），所述数据比较器（6）将所述存储阵列数据与所述参考数据作比较，并将数据比较结果同时发送给所述测试机台和所述状态机（4）；

步骤8）若数据比较结果不一致，则测试立即结束；若数据比较结果一致，则返回步骤2，所述状态机（4）经所述加法器（3）或减法器控制所述锁相环（2）自动下调或上调输出时钟频率，继续测试，周而复始，直至数据比较结果不一致。

4.根据权利要求3所述的自动测量嵌入式存储器最大工作频率的方法，其特征在于：步骤5中，所述的存储器数据输入与控制信号包括片选信号、时钟信号、写使能信号、读使能信号、地址输入总线和数据输入总线。