[发明专利]一种基于电容式触控芯片的电容检测方法及装置

说明书

技术领域

本发明属于电子电路技术领域，尤其涉及一种基于电容式触控芯片的电容检测方法及装置。

背景技术

随着手机、平板、笔记本、可穿戴设备、电视和交互式工作台等触控面板的种类、尺寸和应用的多样化，导致单一的电容检测方法难以满足这些多样化的需求，为了应对这些多样化的需求，如果针对每一种需求都提出一种针对性的设计，不利于降低设计和生产上的成本，同时全新的设计也会带来设计上的风险。

现有技术中，在触控芯片中通常采用的电容检测方式为：开启待检测电容的通道，由于固定电容和手指对地电容(即通道通过手指以大地为基础的对地电容)产生电压，对电容进行充放电，最大化积累有效手指电容的电荷，形成电容电压，通过处理该电容电压得到电容检测值。

但是，电容式触控屏幕的尺寸不同、应用场景不同，其所对应的横向和纵向的通道数、位置、充放电荷及检测电容时间均会有所不同，对应的待检测通道数量和配置情况也均会有不同，因此上述现有技术无法满足由于屏幕尺寸、应用场景的差异而产生的通道数量、配置情况、检测方式的多样化需求，适应性差，造成电容检测效率低。

发明内容

本发明提供一种基于电容式触控芯片的电容检测方法及装置，用以通过预先设置待检测通道的预配置信息和待检测通道的开启顺序的信息，并按照该预配置信息和该开启顺序的信息配置待检测通道，进行电容值的检测，可提高待检测通道设置的灵活性，提高检测效率，降低检测成本。

本发明提供的一种基于电容式触控芯片的电容检测方法，用于检测待检测通道的电容值，包括：设置所述待检测通道的配置信息，所述待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；按照所述各待检测通道的预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置；按照所述各待检测通道的开启顺序的信息，开启首个待检测通道，并在当前开启的待检测通道中，检测因用户触摸而产生的电容值；当完成当前开启的待检测通道的电容值检测时，按照所述开启顺序的信息，开启下一个待检测通道，并对所述下一个待检测通道继续执行电容值的检测，直至完成所有待检测通道的电容值的检测。

本发明提供的一种基于电容式触控芯片的电容检测装置，用于检测待检测通道的电容值，包括：设置模块，用于设置所述待检测通道的配置信息，所述待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；配置模块，用于按照所述各待检测通道的预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置；开启模块，用于按照所述各待检测通道的开启顺序的信息，开启首个待检测通道；检测模块，用于在当前开启的待检测通道中，检测因用户触摸而产生的电容值；所述开启模块，还用于当完成当前开启的待检测通道的电容值检测时，按照所述开启顺序的信息，开启下一个待检测通道；所述检测模块，还用于对所述下一个待检测通道继续执行电容值的检测。

从上述本发明实施例可知，本发明提供的基于电容式触控芯片的电容检测方法及装置，预先设置对芯片电容进行检测的各待检测通道的开启顺序的信息和预配置信息，并按照该预配置信息配置待检测通道，并按照该开启顺序的信 息开启各待检测通道，且在当前开启的待检测通道中进行电容值的检测，可提高待检测通道设置的灵活性，提高检测效率，且可以根据检测需要设置待检测通道，降低检测成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的基于电容式触控芯片的电容检测方法的电路结构示意图；

图2是本发明第一实施例提供的基于电容式触控芯片的电容检测方法的实现流程示意图；

图3是本发明第二实施例提供的基于电容式触控芯片的电容检测方法的实现流程示意图；

图4是本发明实施例中链表式的待检测通道的配置表的格式示意图；

图5是本发明实施例中阵列式的待检测通道的配置表的格式示意图；

图6是本发明第三实施例以及第四实施例提供的基于电容式触控芯片的电容检测装置的结构示意图。

具体实施方式