[发明专利]β射线法三通道大气颗粒物监测仪有效
申请号: | 201610098375.5 | 申请日: | 2016-02-23 |
公开(公告)号: | CN105738262B | 公开(公告)日: | 2018-09-28 |
发明(设计)人: | 王杰;李德文;龚小兵;吴付祥;郭胜均;刘国庆;赵中太;赵政;梁爱春;李定富;惠立峰;巫亮;张强;刘奎;刘涛;王志宝;郭振新 | 申请(专利权)人: | 中煤科工集团重庆研究院有限公司 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06;G01N15/00 |
代理公司: | 重庆市前沿专利事务所(普通合伙) 50211 | 代理人: | 王莹 |
地址: | 400039 重庆*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 通道 大气 颗粒 监测 | ||
本发明公开了一种β射线法三通道大气颗粒物监测仪,包括人机接口、抽尘机构、用于采集气流的采样装置、用于安装滤纸的滤纸架、用于压紧滤纸的压紧装置和用于检测β射线损耗的检测装置,所述滤纸架上的滤纸水平穿过压紧装置和检测装置,所述采样装置位于滤纸架上滤纸的上方,该采样装置设置有三路通道,所述抽尘机构位于滤纸架上滤纸的下方,该抽尘机构也设置有与采样装置每一通道一一对应的三路通道。本发明通过对整机的结构进行简化、并设置三路通道的采样装置和抽尘机构,从而提供了一种β射线法三通道大气颗粒物监测仪,可以同时采样监测三个参数,使用非常方便。
技术领域
本发明属于大气检测设备技术领域,具体地讲,特别涉及一种β射线法三通道大气颗粒物监测仪。
背景技术
大气颗粒物是分散在大气中固态或液态颗粒状物质的总称。大气颗粒物粒径的大小不同,被吸入并沉积在呼吸系统的部位不同,对机体的危害也有差异。大于5μm的多滞留在上部气道,小于5μm的多滞留在细支气管和肺泡。随着人们越来越关注大气颗粒物对健康的危害,大气颗粒物的监测技术也越来越进步。
现有的大气颗粒物监测手段主要有:β射线吸收法,微量振荡天平法和光散射法。其中,β射线吸收法主要是将大气中的颗粒物附着在滤纸上,再测量β射线经过该滤纸后的损耗,从而计算颗粒物的质量浓度。其具体测量过程是:将指定的空白滤纸放在β源与探测器之间的P1点测量通过空白滤纸的β射线的强度值并保存,然后将该区域的滤纸移到另一指定的P2点进行抽气采样并在滤纸上留下尘斑,采样后将含有尘斑的滤纸移回到β源与探测器之间的P1点,再测量其β射线的强度值并保存,最后通过计算得到与大气颗粒物浓度有关的数据,从而完成一次测量;进行下一次测量前,滤纸则需要走纸一定距离。
目前,市场上的大多数β射线法大气颗粒物监测仪均为单通道颗粒物监测仪,只能实现一个参数的测量,获取两个或更多的参数则需要多台仪器,使用非常不方便。申请号为201210332949.2的发明专利公开了一种双通道大气颗粒物自动监测装置,提出两个检测通道同时检测两个参数的技术方案。但是,由于采样管的升降、滤纸的平移、以及滤纸的走纸对精确度的要求都很高,造成装置整机的结构非常复杂,这种双通道的大气颗粒物监测装置整体的结构复杂,占用空间大,使用和维护都不方便;并且,几乎不可能再增加更多的检测通道,不能实现更多参数的同时获取。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于提供一种结构简单、使用方便的β射线法三通道大气颗粒物监测仪。
本发明的技术方案如下:一种β射线法三通道大气颗粒物监测仪,包括人机接口、抽尘机构、用于采集气流的采样装置、用于安装滤纸的滤纸架、用于压紧滤纸的压紧装置和用于检测β射线损耗的检测装置,所述滤纸架上的滤纸水平穿过压紧装置和检测装置,所述采样装置位于滤纸架上滤纸的上方,该采样装置设置有三路通道,所述抽尘机构位于滤纸架上滤纸的下方,该抽尘机构也设置有与采样装置每一通道一一对应的三路通道。
所述压紧装置包括立板、下托块、上托块、步进电机、丝杆、螺母、楔形块、压套、压缩弹簧和采样管,所述立板竖向布置,在立板的正面固定有上下相对的上托块和下托块,在所述上托块与下托块之间留有间隙;在所述上托块内设有腔室,并且在上托块上竖向贯穿有三个左右并排的采样管,每一所述采样管上均固定有压套,在每一采样管上还套装有位于压套上方的压缩弹簧,所述压缩弹簧和压套均位于上托块的腔室内,在压缩弹簧的作用下,采样管的下端与下托块的顶面抵紧;在所述立板的背面固定有步进电机,在所述步进电机的输出轴上连接有伸入上托块腔室内的丝杆,在所述丝杆上套装有螺母,在所述螺母上设置有与压套对应的楔形块,在所述楔形块与压套上均加工有相互配合的斜面,当步进电机转动时,所述楔形块沿丝杆前后移动,所述压套和采样管在楔形块与压缩弹簧的作用下上下移动。
在所述采样管与上托块的顶部之间配装有套筒,所述套筒与上托块的顶面固定,在套筒的内壁与采样管的外壁之间留有间隙。设置套筒有利于减少采样管与上托块之间的磨损,有利于延长采样管和上托块的使用寿命。
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