[发明专利]一种氮化镓基发光二极管外延结构及其制备方法在审
申请号: | 201610100277.0 | 申请日: | 2016-02-23 |
公开(公告)号: | CN105576098A | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
发明(设计)人: | 李国强 | 申请(专利权)人: | 河源市众拓光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/32 | 分类号: | H01L33/32;H01L33/06 |
代理公司: | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 李健富 |
地址: | 517000 广东省河源市高新技术开*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氮化 发光二极管 外延 结构 及其 制备 方法 | ||
1.一种氮化镓基发光二极管外延结构,其特征在于,自下至上依次包括:衬底、形核层、 缓冲层、N型GaN层、多量子阱有源区、电子阻挡层、P型III族氮化物叠层;
所述P型III族氮化物叠层由P型GaN层和P型InxGa1-xN层依次交替层叠而成,其中,x= 0.01-0.3。
2.如权利要求1所述的氮化镓基发光二极管外延结构,其特征在于,所述P型GaN层和/ 或P型InxGa1-xN层的厚度为20-1000nm。
3.如权利要求1所述的氮化镓基发光二极管外延结构,其特征在于,所述衬底的材质为 蓝宝石、Si、SiC、GaN、ZnO、LiGaO2、LaSrAlTaO6、Al和Cu中的一种。
4.如权利要求1所述的氮化镓基发光二极管外延结构,其特征在于,所述多量子阱有源 区由y个多量子阱势垒层和y-1个多量子阱势阱层依次交替层叠而成,所述y为大于2的整 数。
5.如权利要求4所述的氮化镓基发光二极管外延结构,其特征在于,所述多量子阱势垒 层的材料为GaN、InGaN、AlGaN和AlInGaN中的一种。
6.如权利要求4所述的氮化镓基发光二极管外延结构,其特征在于,所述多量子阱势阱 层的材料为InGaN。
7.如权利要求1所述的氮化镓基发光二极管外延结构,其特征在于,所述电子阻挡层的 材料为AlGaN、InAlN或AlInGaN。
8.如权利要求1-7任一项所述的氮化镓基发光二极管外延结构的制备方法,包括步骤 如下:
1)在衬底上依次生长形核层、缓冲层、N型GaN层、多量子阱有源区、电子阻挡层;
2)在电子阻挡层上依次交替生长P型GaN层和P型InxGa1-xN层,x=0.01-0.3,得到P型III 族氮化物叠层;
其中,所述P型GaN层的生长方法如下:将反应室温度控制在900-1100℃,通入二茂镁、 氨气、氮气和三甲基镓,在所述的电子阻挡层上生长P型GaN层,厚度为20-1000nm,掺杂浓度 为3-9×1017cm-3;
其中,所述P型InxGa1-xN层的生长方法如下:反应室温度保持900-1100℃,通入二茂镁、 氨气、氮气、三甲基镓和三甲基铟,在上述P型GaN层上生长P型InxGa1-xN层,厚度为20- 1000nm,掺杂浓度为3-9×1017cm-3。
9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,步骤2)中,在电子阻挡层上依次交替生长P型 GaN层和P型In0.2Ga0.8N层;
其中,所述P型GaN层的生长方法如下:将反应室温度控制在950℃,通入二茂镁、氨气、 氮气和三甲基镓,在所述的电子阻挡层上生长P型GaN层,厚度为20-40nm,掺杂浓度为5× 1017cm-3;
其中,所述P型In0.2Ga0.8N层的生长方法如下:反应室温度控制在950℃,通入二茂镁、氨 气、氮气、三甲基镓和三甲基铟,在上述P型GaN层上生长P型In0.2Ga0.8N层,厚度为150- 200nm,掺杂浓度为5×1017cm-3。
10.如权利要求8所述的方法,其特征在于,步骤1)中,具体操作步骤如下:
a)衬底处理:将(0001)晶向蓝宝石衬底放入MOCVD设备中,反应室温度升高到1000- 1300℃,通入氢气,对衬底进行高温烘烤;
b)生长形核层:将反应室温度控制在400-700℃,通入氨气、氢气和三甲基镓,在衬底上 生长GaN形核层,形核层厚度≤1nm;
c)生长缓冲层:将反应室温度控制在400-700℃,通入氨气、氢气和三甲基镓,在形核层 上生长缓冲层,缓冲层厚度为100-300nm;
d)生长N型GaN层:将反应室温度控制在1000-1500℃,通入硅烷、氨气、氢气和三甲基 镓,在缓冲层上生长N型GaN层,厚度为2-4μm,掺杂浓度为3-9×1018cm-3;
e)生长多量子阱有源区:在N型GaN层上依次层叠生长多量子阱势垒层和多量子阱势阱 层;该多量子阱有源区最下层和最上层均为多量子阱势垒层;
其中,多量子阱势垒层的生长方法如下:将反应室温度控制在800-900℃,通入氨气、氮 气和三甲基镓,在N型GaN层或多量子阱势阱层上生长多量子阱势垒层,厚度为12-18nm;
其中,多量子阱势阱层的生长方法如下:将反应室温度控制在700-780℃,通入氨气、氮 气、三甲基镓和三甲基铟,在GaN多量子阱势垒层上生长多量子阱势阱层,厚度为2-4nm;
f)生长电子阻挡层:将反应室温度控制在900-1100℃,通入二茂镁、氨气、氮气、三甲基 镓和三甲基铝,在多量子阱有源区上生长电子阻挡层,厚度为80-200nm,掺杂浓度3-9× 1017cm-3。
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