[发明专利]氧化物薄膜晶体管阵列基板及制作方法与液晶显示面板在审
申请号: | 201610104098.4 | 申请日: | 2016-02-25 |
公开(公告)号: | CN105514127A | 公开(公告)日: | 2016-04-20 |
发明(设计)人: | 康海燕;徐芸 | 申请(专利权)人: | 昆山龙腾光电有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77;G02F1/1333 |
代理公司: | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人: | 蔡光仟 |
地址: | 215301 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 氧化物 薄膜晶体管 阵列 制作方法 液晶显示 面板 | ||
1.一种氧化物薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征在于,该氧化物 薄膜晶体管阵列基板的制作方法包括如下步骤:
在衬底(20)上形成图形化的栅极(21);
在该衬底(20)上依次连续形成栅极绝缘层(22)、氧化物半导体材料层(23) 和蚀刻阻挡材料层(24),其中该栅极绝缘层(22)覆盖在该栅极(21)上,该氧化 物半导体材料层(23)覆盖在该栅极绝缘层(22)上,该蚀刻阻挡材料层(24)覆盖 在该氧化物半导体材料层(23)上;
利用干蚀刻工艺对该蚀刻阻挡材料层(24)进行蚀刻图形化以在该氧化物 半导体材料层(23)上对应该栅极(21)的上方形成蚀刻阻挡层(24a),此时该氧化 物半导体材料层(23)未被蚀刻;
在该氧化物半导体材料层(23)上形成一层源漏金属材料层(25),其中该源 漏金属材料层(25)覆盖该蚀刻阻挡层(24a);
在该源漏金属材料层(25)上涂覆一层光阻层(30),对该光阻层(30)进行曝 光和显影,利用显影留下的光阻层图案(30a)作为遮罩对该源漏金属材料层(25) 进行第一次湿蚀刻以形成源极(251)和漏极(252);
再以该光阻层图案(30a)作为遮罩对该氧化物半导体材料层(23)进行第二 次湿蚀刻以在对应该栅极(21)的上方形成氧化物半导体(23a);
去除该光阻层图案(30a)。
2.如权利要求1所述的氧化物薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征 在于,在去除该光阻层图案(30a)之后,该氧化物薄膜晶体管阵列基板的制作 方法还包括在该栅极绝缘层(22)上形成钝化层(41),该钝化层(41)覆盖该源极 (251)、该漏极(252)和从该源极(251)和该漏极(252)之间露出的该蚀刻阻挡层 (24a),在该钝化层(41)上于对应该源极(251)或该漏极(252)的位置处形成通孔 (410),然后在该钝化层(41)上形成像素电极(42),其中该像素电极(42)通过该 通孔(410)与该源极(251)或该漏极(252)电连接。
3.如权利要求2所述的氧化物薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征 在于,该像素电极(42)的制作步骤具体包括:先在该钝化层(41)上沉积一层透 明导电材料层,然后对该透明导电材料层进行蚀刻图形化以在各像素区域内 形成该像素电极(42)。
4.如权利要求1所述的氧化物薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征 在于,该氧化物半导体材料层(23)为IGZO、ITZO或ZnO氧化物半导体薄膜。
5.如权利要求1所述的氧化物薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征 在于,该栅极绝缘层(22)和该蚀刻阻挡材料层(24)为氧化硅、氮化硅或氮氧化 硅薄膜。
6.如权利要求1所述的氧化物薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征 在于,栅极金属材料层和该源漏金属材料层(25)为Cr、W、Ti、Ta、Mo、Al、 Cu金属或合金。
7.一种氧化物薄膜晶体管阵列基板,其特征在于,该氧化物薄膜晶体管 阵列基板通过权利要求1至6任一项所述的氧化物薄膜晶体管阵列基板的制 作方法制作形成。
8.一种液晶显示面板,包括彩色滤光片基板和氧化物薄膜晶体管阵列基 板以及夹置在该彩色滤光片基板与该氧化物薄膜晶体管阵列基板之间的液晶 层,其特征在于,该氧化物薄膜晶体管阵列基板为权利要求7所述的氧化物 薄膜晶体管阵列基板。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆山龙腾光电有限公司,未经昆山龙腾光电有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610104098.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种图像传感器芯片及其制造方法
- 下一篇:TFT背板结构及其制作方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的