[发明专利]一种连续太赫兹目标散射测量控制系统

权利要求书

1.一种连续太赫兹目标散射测量控制系统，其特征在于，所述控制系统包括：位移台控制模块、采样控制模块和数据存储模块，

位移台控制模块，用于控制计算机通过USB口与电位移控制箱的连接，实现对三个位移台：X轴平动台、Y轴转动台、Z轴平动台的控制；位移台控制模块包括手动调节子模块和自动测量子模块；

手动调节子模块，用于用户通过手动调节利用位移台来控制待测物和校准物的位置，所述Y轴转动台位于X轴平动台的上方，将所述待测物置于Y轴转动台上，所述校准物置于Z轴平动台上；经调节后确定自动测量子模块进行自动测量时需要输入的参数：“X轴平移量”、“Z轴平移量”、“Y轴转动角度”和“Y轴转动次数”，即：X轴平动台的平移量、Z轴平动台的平移量、Y轴转动台的转动角度、Y轴转动台的转动次数；

自动测量子模块，用于自动采集预设次数的待测物和校准物的散射回波信号的峰峰值；

采样控制模块，用于采集待测物、校准物在太赫兹频段下照射的散射回波信号，以及用于设置采集参数：斩波器频率、采样间隔、采样倍率、电压幅值、测量次数及等待时间；

数据存储模块，用于将采样的得到的数据以ASCII码的形式保存成一个dat文件，其中所采集的散射回波信号峰峰值会以矩阵形式保存，其文件名为“peak+‘进行采样时的时间’”，通过所采集的数据算得的平均值和标准差的文件名为“ave&SD+‘进行采样时的时间’”，待测物和校准物的比值的文件名为“ratio+‘进行采样时的时间’”。

2.根据权利要求1所述的一种连续太赫兹目标散射测量控制系统，其特征在于：所述在手动调节子模块的界面进行手动调节过程中，通过单选按钮来选择要控制的坐标轴，通过“前进”和“后退”按钮来实现对位移台的前进和后退运动的控制，且位移台的实时坐标会同步显示；对于每个位移台都有三种归零方式，分别是：“负限位归零”、“光学归零”、“用户原点归零”；当用户调节好位置后可以通过点击“当前位置设为用户原点”按钮来将此时位移台的位置设为用户原点，以后再对位移台进行移动后，可通过点击“用户原点归零”来回到此时调节好的位置。

3.根据权利要求1或2所述的一种连续太赫兹目标散射测量控制系统，其特征在于：所述采样控制模块通过数据采集卡实现采集待测物、校准物在太赫兹频段下照射的散射回波信号；斩波器频率是指将要采集信号的频率，即信号周期的倒数；斩波器频率乘以采样倍率即为采样频率；

采样控制模块对散射回波信号的5个周期进行采样，然后从所有数据中取最大值与最小值的差求得一个峰峰值，“测量次数”是指对信号采集的次数，即峰峰值的个数；“电压幅值选择”是下拉列表，包括“+/-10V”、“+/-5V”、“+/-2.5V”、“+/-1.25V”、“+/-625 mV”、“0～10V”、“0～5V”、“0～2.5V”、“0～1.25V”；“等待时间”是指当位移台运动到指定位置停止后，等待相应的时间再进行采样；“采样间隔”是指两次采样之间所经历的时间。

4.根据权利要求3所述的一种连续太赫兹目标散射测量控制系统，其特征在于：所述自动测量子模块用于在设定完所述需要输入的参数参数后，点击自动测量子模块界面上“自动测量”按钮后会自动执行以下过程：将校准物平移“Z轴平移量”到探测位置进行测量；将校准物沿反方向平移“Z轴平移量”移出探测位置；将待测物平移“X轴平移量”到探测位置进行测量；将待测物旋转“Y轴转动角度”进行测量；将待测物沿反方向平移“X轴平移量”移出探测位置；将校准物平移“Z轴平移量”到探测位置进行测量；将校准物沿反方向平移“Z轴平移量”移出探测位置；将待测物平移“X轴平移量”到探测位置；将待测物旋转“Y轴转动角度”进宪测量；如此循环，循环次数为“Y轴转动次数”；使每测2次不同角度的待测物，就对校准物的测量1次，测量得的校准数据既可以校准前一次待测物的测量数据，也可以校准后一次待测物的测量数据。

5.根据权利要求4所述的一种连续太赫兹目标散射测量控制系统，其特征在于：所述自动测量子模块还用于在整个测量过程结束后，用户可对参数进行修改或直接进行下一次测量；在进行下次测量前要清空数据；还用于对测量过程的中止操作。