[发明专利]一种光学电流测量装置

权利要求书

1.一种光学电流测量装置，其特征在于，包括传感头系统、动态校正系统、光电解调系统和光纤分支器(7)；

所述传感头系统包括一个或多个晶体光阀磁场传感器(1)、一个或多个螺线管(2)、P1电流端子(3)和P2电流端子(4)，所述晶体光阀磁场传感器(1)固定于所述螺线管(2)内，且与所述螺线管(2)同轴设置，所述晶体光阀磁场传感器(1)的长度小于所述螺线管(2)的长度，所述螺线管(2)为一个时，所述P1电流端子(3)和P2电流端子(4)由螺线管(2)两端引出，或所述螺线管(2)为多个时，所述螺线管(2)之间通过金属导线顺序连接，顺序连接的第一个螺线管引出P1电流端子(3)，顺序连接的最后一个螺线管引出P2电流端子(4)，所述晶体光阀磁场传感器(1)的两端通过光纤与所述光纤分支器(7)下行光接口连接，所述晶体光阀磁场传感器(1)与所述螺线管(2)的数量相同且一一对应；

所述动态校正系统通过光纤与所述光纤分支器(7)的下行光接口连接，所述动态校正系统用于将光信号转化为电流，进而在晶体光阀磁场传感器(1)外侧形成参考磁场，所述晶体光阀磁场传感器(1)同时检测到参考磁场和所述螺线管(2)产生的被测磁场；所述动态校正系统包括光电校准器(5)和参考线圈(6)，所述光电校准器(6)与所述光纤分支器(7)的下行光接口连接，所述参考线圈(6)置于所述螺线管(2)内；所述参考线圈(6)与所述晶体光阀磁场传感器(1)的数量相同且一一对应，所述参考线圈(6)之间通过金属导线顺序连接；

所述光电解调系统包括光源(8)和光电解调单元(9)，所述光电解调系统通过光缆(10)与所述光纤分支器(7)上行光接口连接，所述光源(8)发出恒定的第一光信号、第二光信号和第三光信号，所述第一光信号和第二光信号组成差分双光路，所述第一光信号和第二光信号通过所述光纤分支器(7)传输到所述晶体光阀磁场传感器(1)，所述第三光信号通过所述光纤分支器(7)传输到所述动态校正系统，所述晶体光阀磁场传感器(1)所感应的被测电流的磁场信号通过光纤分支器(7)传回所述光电解调系统，所述光电解调系统将反馈回的光信号转换成电信号，并进行解调，计算出被测电流。

2.根据权利要求1所述的一种光学电流测量装置，其特征在于，所述多个螺线管(2)平行浇筑成一体。

3.根据权利要求1所述的一种光学电流测量装置，其特征在于，所述第一光信号的波长为1400-1600nm；所述第二光信号的波长为1350-1550nm；所述第三光信号的波长为850-1050nm。

4.根据权利要求1或3所述的一种光学电流测量装置，其特征在于，所述光源是激光器。

5.根据权利要求1所述的一种光学电流测量装置，其特征在于，所述光电解调系统测出的电流数据以IEC61850标准协议格式打包，发送至下级合并单元。